Occasion ADVANTEST T 5581H #9179691 à vendre en France
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ID: 9179691
Tester
Dual head system
Includes: (2) M6741 Handlers
System configuration generate
Configuration of test head
Pin configuration 1.640DR+288I/O
2.960DR+288I/O
3.640DR+576I/O
4.960DR+576I/O [1-4] ............> 4
TH Cable length 1.5M
2.8M [1,2] ......................> 1
Number of test head [1,2] ...........................> 2
Configuration of test head 1
Test head type 1.816CH
2.1600CH [1,2] .....................> 2
PE Board type 0.No board
1.BGM-021633 (Full PE)
2.BGM-021633X02 (I/O PE)
3.BGM-021633X03 (DR PE)
Slot 33 36 39 161 164 167
Child A ....> 1 1 1 1 1 1
Child B ....> 1 1 1 1 1 1
Child C ....> 1 1 1 1 1 1
Child D ....> 1 1 1 1 1 1
Child E ....> 1 1 1 1 1 1
Child F ....> 1 1 1 1 1 1
Child G ....> 1 1 1 1 1 1
Child H ....> 1 1 1 1 1 1
Configuration of test head 2
Test head type 1.816CH
2.1600CH [1,2] .....................> 2
PE Board type 0.NO BOARD
1.BGM-021633 (Full PE)
2.BGM-021633X02 (I/O PE)
3.BGM-021633X03 (DR PE)
Slot 33 36 39 161 164 167
Child A ....> 1 1 1 1 1 1
Child B ....> 1 1 1 1 1 1
Child C ....> 1 1 1 1 1 1
Child D ....> 1 1 1 1 1 1
Child E ....> 1 1 1 1 1 1
Child F ....> 1 1 1 1 1 1
Child G ....> 1 1 1 1 1 1
Child H ....> 1 1 1 1 1 1
Configuration of DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
Test head 1 DC Configuration [1-32] .............> 1-32
10V PPS SPEC [1,2] (1:0.4A 2:0.8A) ......> 2
10V PPS Configuration [1-64] .............> 1-64
16V PPS Configuration [33-64] ............>
HV PPS Configuration [1-4] .............>
Test head 2 DC Configuration [1-32] .............> 1-32
10V PPS SPEC [1,2] (1:0.4A 2:0.8A) ......> 2
10V PPS Configuration [1-64] .............> 1-64
16V PPS Configuration [33-64] ............>
HV PPS Configuration [1-4] .............>
1'ST GPIB I/F Board 0.None
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] .........> 0
2'ND GPIB I/F Board 0.None
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] .........> 1
DMM Type 1.TR6861
2.R6871E
3.R6551
4.R6552T [1-4] .........> 3
AC Frequency (Hz) [50,60] ........................> 60
Configuration OF ALPG
Number OF ALPG [1,2,4] ..............................> 2
Configuration OF DBM
DBM Option exist [Y,N] ..............................> NO
Configuration OF FM
Number OF FM board [0-4] ............................> 0
Pattern memory(PM) board exist [Y,N] ................> NO
End save.
ADVANTEST T 5581ème est un équipement d'essai de finale de haute performance qui est conçu pour augmenter l'efficacité industrielle et réduire des taux de petit morceau. Il offre une combinaison unique de vitesse et de précision qui assure un test robuste et la collecte de données. Il répond aux exigences des fabricants de semi-conducteurs et d'une grande variété de services de fabrication électronique (EMS) en intégrant efficacement les capacités de test et de mesure à grande vitesse avec des logiciels de test et de gestion avancés. ADVANTEST T5581H offre une variété de traits pour l'essai à grande vitesse qui inclut un design avancé, modulaire qui réduit des exigences de région de travail et avec grand TFT de 10 pouces de style de la fenêtre l'étalage double, il garantit un plaisir d'observation maximum. Il est construit avec une tour ATX puissante et de haute qualité basée sur Intel. Cette architecture permet au système d'effectuer simultanément des tests complexes à plus de 100 MHz tout en supportant jusqu'à 128 sites individuels. L'architecture flexible de l'unité d'exploitation ELE-OS permet également de personnaliser les processus de test pour optimiser l'efficacité. En plus de la conception matérielle avancée, T 5581 H offre une gamme d'options de contrôle de qualité. Avec une variété de logiciels de test, il peut détecter et vérifier automatiquement divers paramètres qui sont utilisés pour analyser les performances et les données de sortie. En option, il peut également être utilisé avec le logiciel ELE-Link qui fournit un accès à distance pour la surveillance et l'analyse, permettant aux gestionnaires de test d'accéder rapidement aux résultats de n'importe où. Le système de gestion T 5581 H est également équipé de fonctionnalités telles que l'enregistrement intégré des données, la mémoire non volatile et les capacités intégrées de base de données et de gestion. Il est également conçu pour supporter de manière transparente une large gamme d'équipements d'essai tels que ATE, thermique, optique, et d'autres ELIC spécialisés à grande vitesse. En outre, il dispose d'un certain nombre de caractéristiques de sécurité qui comprennent des mesures actives et passives de protection contre l'ESD, une machine d'interception de sécurité et un outil de température autonome. Dans l'ensemble, T 5581H est une solution parfaite pour tester une grande variété de composants électroniques haute vitesse et haute performance avant qu'ils ne soient expédiés aux clients. Avec ses capacités robustes, ses performances élevées et ses résultats précis, il garantit la plus haute qualité possible et augmente l'efficacité de fabrication, réduisant le temps d'arrêt et les taux de rebut.
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