Occasion ADVANTEST T 5585 #293634718 à vendre en France

ADVANTEST T 5585 est un haut débit, l'équipement d'essai final conçu à la gaufrette de haut volume et à l'essai d'unité. Il est équipé de la dernière technologie APBIT (Advanced Pattern Based In-System Test) lui permettant de tester et valider rapidement et précisément des conceptions complexes. L'unité peut traiter jusqu'à 100 wafers et jusqu'à 10 000 composants électroniques par heure, permettant des volumes de débit élevés en une seule passe.La machine se compose de plusieurs composants, dont un ordinateur central, qui abrite les multiples systèmes ICTS (Integrated Circuit Testing Solutions) et DMT (Dielectric Microscopy Testing) et une bibliothèque commune pour la gestion des wafer et composants. L'outil comprend également un multiplexeur de commutation programmable, qui permet de tester simultanément plusieurs IC en parallèle, ainsi qu'un outil intégré de traitement de sonde pour les tests unitaires. ADVANTEST T5585 offre de hauts niveaux d'exactitude et de repeatability. Il est capable de tester des conceptions complexes avec la technologie APBIT, qui permet de vérifier jusqu'à huit modes de défaut simultanément, ainsi qu'un temps de test rapide de 1,2 s/module. Le modèle offre une couverture de défaut à grande vitesse et peut détecter des paramètres de double image, de pontage, de raccourcis et de test ouvert à une fréquence de balayage allant jusqu'à 300MHz. T 5585 est conçu pour offrir un haut degré de flexibilité, avec des capacités d'automatisation de test et de personnalisation. Il supporte un large éventail de normes, y compris MIL-STD-883, JEDEC, et de multiples saveurs de IEEE 1687. Il prend également en charge une variété de tests d'interfaçage matériel, tels que vectorless et modulaire broche swap pris en charge par des connexions de câblage simples et l'interface utilisateur graphique facile à utiliser. L'équipement offre également un profilage thermique pour les essais au niveau des plaquettes, ainsi que des capacités de mesure de la température pour s'assurer que la température du dispositif reste dans les conditions d'essai spécifiées. De plus, l'unité de gestion des tests de précision (PTM) de k-factor du système permet une caractérisation avancée des appareils et des capacités de débogage. T5585 est une solution idéale pour les besoins de test final les plus rapides et les plus précis. Il fournit une solution de test efficace, précise et évolutive pour des tests de wafer et d'unité à haut volume.