Occasion ADVANTEST T 5585 #293651629 à vendre en France

ADVANTEST T 5585
Fabricant
ADVANTEST
Modèle
T 5585
ID: 293651629
Style Vintage: 2001
Memory test system 1/2 Test head (768) Driver (DR) channels (576) Input/Output (I/O) channels (1-64) Direct Current (DC) test units (1-64) 10V Programmable Power Supply (PPS) units (129-192) 10V Programmable Power Supply (PPS) units 576M x 8 Address Fail Memory (AFM) 250 MHz test rate Timing accuracy: ±400ps 2001 vintage.
L « équipement d » essai final de la base de données d « écrans de haute capacité est un équipement d » essai final T 5585 conçu pour les tests de puce embarquée à haut volume. Le système est basé sur la technologie V93000 prouvée et la haute performance l'électronique d'épingle numérique, en fournissant l'essai fiable de frites fixés pour une large variété d'applications. L'unité intègre des méthodes de signaux mixtes, une technologie de commande avancée et d'autres méthodes classiques pour améliorer le débit et la précision. La machine est conçue pour être évolutive, configurable et évolutive. Il peut être utilisé individuellement ou configuré dans un réseau modulaire de 32 systèmes au maximum. L'outil est optimisé pour des tests de haute précision et prend en charge des applications complexes telles que les tests de liaisons à haute vitesse (HSL), les tests BIST mémoire et les tests d'analyse des frontières (JTAG). Les outils avancés de navigation, de gestion et d'automatisation des utilisateurs facilitent la configuration et l'utilisation de l'actif. Le modèle est livré avec la dernière suite logicielle testeur et respecte les normes de sécurité et de fiabilité des puces embarquées. Il prend en charge divers I/Os standard de l'industrie, y compris Spartan, Altera, Flexible IO, et ASIC. L'équipement supporte également une gamme de capacités d'essai, fournissant précision et vitesse pour améliorer la productivité. Il prend également en charge des protocoles de test tels que JTAG, Pin Electronics/Pin Control, Vector Capture, Mixed Mode Stimulus, Parametric Test, Cable Test, JTAG test, et Memory Test.Le T 5580 supporte plusieurs taux de transfert synchrone avec des débits de données jusqu'à 2,7 Gbps. Sa grande précision et ses temps de réponse améliorent le débit des données, ce qui rend le système plus rapide et plus fiable. L'unité est bien adaptée pour tester des dispositifs de mémoire haute densité, permettant de valider jusqu'à 8 gigabits de données simultanément. La machine est construite dans un solide 19 "rackmount facteur de forme et est compatible avec de nombreuses plates-formes hôtes, avec une interface utilisateur Windows. L'outil est également conçu avec une structure de conformité EMI et CE robuste pour un fonctionnement sûr et répond aux exigences de compatibilité électromagnétique. La conception robuste et la précision relative élevée garantissent des performances de test fiables dans un environnement rude. En général, l'actif d'essai de finale d'ADVANTEST T5585 est conçu à la performance fiable, l'organisation facile et l'utilisation et peut être utilisé tant pour la fin basse que pour l'essai de puce fixé très haut de gamme. Son évolutivité et sa configurabilité en font une excellente solution pour tout défi de test de puce.
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