Occasion ADVANTEST T 5585 #9157284 à vendre en France

ADVANTEST T 5585 est un équipement d'essai final conçu à la haute utilisation de volume dans l'essai de niveau de la gaufrette de CMOS et de circuits intégrés bipolar. Ce système dispose d'une plate-forme technologique de pointe qui permet de tester une large gamme de composants avec une grande vitesse et précision. Le système EST T5585 comprend deux canaux d'acquisition de tension d'oscilloscope (O-VA) à 16 entrées et deux canaux de générateur d'ondes multifonctions (MFWG). Ceci est combiné avec une architecture 16-Bit, 256MHz pour une vitesse et une précision inégalées. De plus, le T 5585 dispose de deux canaux de mesure numérique multi-entrées haute vitesse (MIDMC) qui se combinent pour fournir la solution de test finale la plus polyvalente et la plus fiable possible. T5585 dispose d'une résolution de 12 bits jusqu'à 256MHz débit d'échantillonnage, ce qui le rend capable de mesurer et d'analyser des signaux analogiques à très grande vitesse. L'unité peut effectuer des tests simultanés 16 canaux à 12 bits et plus, et fournit un support de test SMD, Flash et BIST pour une large gamme de composants. La version T 5585 est équipée de capacités de déclenchement avancées, qui comprennent les déclencheurs Edge, Glitch et Pattern. En outre, la machine fournit Waveform Search intégré, avec une vaste bibliothèque de modèles de recherche. L'outil offre également une suite de micromètres, de capacités de transfert de courbe et de mesure de paramètres S. Celles-ci sont conçues pour des applications nécessitant une caractérisation et une identification précises des composants. En outre, le système de mesure de la dérive des paramètres de l'appareil EST T5585, ce qui garantit une collecte de données extrêmement précise. T 5585 comprend une interface utilisateur graphique (UI) pour simplifier la courbe d'apprentissage pour les premiers utilisateurs. Cette interface graphique est très intuitive, permettant aux utilisateurs de configurer rapidement l'actif pour la cartographie et la caractérisation des plaquettes spécifiques. Le modèle a également une précision volumétrique intégrée avec étalonnage régulier pour assurer des niveaux de performance constants. Dans l'ensemble, T5585 est un puissant équipement de test final à grande vitesse conçu pour le test au niveau des plaquettes des circuits intégrés CMOS et bipolaires. Le système est capable de mesurer et d'analyser les signaux analogiques et fournit de nombreuses fonctionnalités avancées pour le test, la mesure et l'analyse. De plus, l'unité offre une interface utilisateur intuitive avec une précision volumétrique intégrée et un étalonnage régulier pour des performances cohérentes.