Occasion ADVANTEST T 5592 / M 6541AD #104207 à vendre en France

Les systèmes d'essais finaux de la série T 5592 et M 6541AD sont des solutions automatisées de test à semi-conducteur qui combinent le meilleur de la technologie de test parallèle standard de l'industrie avec les fonctionnalités puissantes des tests de circuit VLSI. Utilisant la technologie « Parallel Test Drive » (PTD), une méthode très efficace pour tester les dispositifs multi-puces, cet équipement fournit une solution rapide et fiable pour les tests et le diagnostic des appareils. Le système tient compte de la collection simultanée de types de données d'essai multiples dans un cycle d'essai de 45 tours, tels que la logique, l'analogue ou le chronométrage, en fournissant l'essai complet de tous les aspects de fonctionnalité d'unité dans un laisser-passer simple. T 5592 est un contrôleur automatique pleinement présenté qui offre une foule des traits et les options de configuration. Son architecture de programme de test au niveau machine, combinée à des capacités de diagnostic, fournit une vitesse et une précision maximales pour les applications de test de production. Il contient un noyau multi-processeur de 8 bits pour le déroulement rapide du programme de test, chaque processeur de l'outil comportant 16 ou 32 canaux DUT. L'actif est équipé d'une interface Dual-Laser qui fournit le contrôle complet, l'état et la configuration de jusqu'à 1008 appareils. Une interface graphique intégrée permet d'identifier et de contrôler facilement les paramètres du modèle. Le modèle M 6541AD dispose d'un noyau de microprocesseur VLSI avec un processeur RISC 16 bits pour exécuter la suite standard de pilotes VLSI, offrant une couverture de test et des vitesses de test accrues. Son bonder à plaquettes empilées donne un facteur de forme plus compact, tandis que les interfaces de test à double cycle de vie offrent une facilité d'utilisation accrue dans plusieurs environnements de production. L'équipement est compatible avec un système de sautillement de fréquence 40/60GHz optionnel pour évaluer des appareils de mémoire tant à grande vitesse qu'ultra-à-grande-vitesse. Pour un débit de test efficace, l'unité supporte plusieurs tests par DUT avec jusqu'à 10 têtes de test dédiées pour chaque filière. De plus, le support FIS (Fault Isolation Tool) de la machine permet une isolation rapide des défauts et un dépannage rapide des défauts jusqu'au niveau de la plaquette. Les systèmes T 5592 et M 6541AD offrent une solution efficace et rentable pour les tests et diagnostics d'appareils dans des environnements de production haut de gamme. Cet outil de test automatisé offre des performances élevées, une grande flexibilité et une robustesse pour des applications VLSI très complexes. Combinant des fonctionnalités puissantes, des capacités de test avancées et des options de configuration polyvalentes, les T 5592 et M 6541AD offrent des performances et une fiabilité inégalées.