Occasion ADVANTEST T 5592 #163116 à vendre en France
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ID: 163116
Memory tester
CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration)
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration)
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
PIN CONFIGURATION 1. 144DR+192I/O
2. 288DR+384I/O
3. 576DR+768I/O [1,2,3] ...........> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ......................................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE1 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD A/B/C/D ..........> YES
PE2 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD A/B/C/D ..........> YES
PE3 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56) CHILD A/B/C/D .........> YES
PE4 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD A/B/C/D ......> YES
PE5 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE6 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD A/B/C/D ..> YES
PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD A/B/C/D? .> YES
PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD A/B/C/D? .> YES
PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD A/B/C/D .> YES
PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D.> YES
PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD A/B/C/D .> YES
PE13 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52) CHILD E/F/G/H .............. YES
PE14 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD E/F/G/H? ..........> YES
PE15 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .......> YES
PE16 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD E/F/G/H ......> YES
PE17 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H......> YES
PE18 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD E/F/G/H ......> YES
PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246) CHILD E/F/G/H .> YES
PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD E/F/G/H ..> YES
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS CONFIGURATION [1-128]......> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ..................................> 50
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..........................................> 4
ONFIGURATION OF PDS
NUMBER OF CYCLE PALETTE [8,16] ...........................> 8
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST[Y,N] ..........................................> YES
SIZE OF DBM BOARD [1-2] [1:256K? 2:1M] ..................> 2
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0,4,8] ...................................> 4
NUMBER OF AFM MODULE [0,8] ..................................> 8
SIZE OF AFM BOARD [1-2] [1:4M] 2:16M] .....................> 1.
L "équipement de test final de puces semi-conductrices est le système de détection de microcontrôlateur T 5592. Il est conçu pour le test au niveau de la plaquette et de l'appareil des microprocesseurs HPC (High Pin Count), des mémoires et d'autres appareils qui nécessitent un grand nombre de données et de broches de test électrique. Système T 5592 est une excellente solution pour les fabricants de dispositifs qui nécessitent un processus de test rapide et efficace. La version T 5592 offre des capacités de test totales grâce à une architecture intégrée. Cette unité dispose d'une combinaison de logiciel Maximus et de matériel VectorStar qui sont en mesure de contrôler les tests des appareils, les interfaces, le contrôle et l'analyse des résultats. Le logiciel Maximus fournit des tests parallèles jusqu'à 32x, permettant aux utilisateurs de réduire le temps et le coût des tests. Une des principales caractéristiques de la machine T 5592 est sa conception évolutive, capable de tester jusqu'à 512 broches. L'outil permet des tests paramétriques et fonctionnels complets, grâce à ses E/S haute vitesse et ses capacités ADC haute résolution. Il offre également plusieurs modes de test, y compris des modes de pré-test pour les tests au niveau des plaquettes, ainsi que le remplacement, la réparation et la caractérisation des appareils pour maximiser le débit de test. ADVANTEST T 5592 offre la résolution de sensation la plus haute possible pour l'épreuve d'appareil, en soutenant l'exactitude maximum et l'assurance de la qualité. Plate-forme de données Le test Asset-on-Chip est également fourni avec ses capacités de test à grande vitesse. Il propose également des bibliothèques intégrées d'algorithmes de test à grande vitesse qui permettent un parallélisme élevé et une mise en œuvre rapide de tests de puissance, d'impédance et d'autres tests à grande vitesse. Le principal avantage du T 5592 est qu'il offre des résultats d'essai de haute qualité, reproductibles et cohérents. Cela signifie que les fabricants de dispositifs peuvent faire confiance aux résultats de leurs tests de dispositifs. Le modèle est également capable de s'adapter aux changements de conception et de fabrication, ce qui en fait un excellent choix pour les testeurs haut de gamme. Grâce à son architecture intégrée et à son design évolutif, la technologie de test de test T 5592 offre des tests rapides et efficaces, aidant les fabricants de dispositifs à rester en avance sur le marché très concurrentiel des essais de semi-conducteurs. Cet équipement est la solution parfaite pour des tests de haute qualité et de haute précision des dispositifs semi-conducteurs.
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