Occasion ADVANTEST T 5592 #163116 à vendre en France

ADVANTEST T 5592
Fabricant
ADVANTEST
Modèle
T 5592
ID: 163116
Memory tester CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration) SYSTEM CONFIGURATION GENERATE CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration) SYSTEM CONFIGURATION GENERATE PIN CONFIGURATION 1. 144DR+192I/O 2. 288DR+384I/O 3. 576DR+768I/O [1,2,3] ...........> 3 NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ......................................> 1 CONFIGURATION OF TEST HEAD 1 PE1 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD A/B/C/D ..........> YES PE2 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD A/B/C/D ..........> YES PE3 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56) CHILD A/B/C/D .........> YES PE4 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD A/B/C/D ......> YES PE5 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118) CHILD A/B/C/D .....> YES PE6 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD A/B/C/D .....> YES PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD A/B/C/D ..> YES PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD A/B/C/D? .> YES PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD A/B/C/D? .> YES PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD A/B/C/D .> YES PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D.> YES PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD A/B/C/D .> YES PE13 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52) CHILD E/F/G/H .............. YES PE14 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD E/F/G/H? ..........> YES PE15 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .......> YES PE16 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD E/F/G/H ......> YES PE17 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H......> YES PE18 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD E/F/G/H ......> YES PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD E/F/G/H ..> YES PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD E/F/G/H ..> YES PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD E/F/G/H ..> YES PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD E/F/G/H ..> YES PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246) CHILD E/F/G/H .> YES PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD E/F/G/H ..> YES CONFIGURATION OF DPU TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32 10V PPS CONFIGURATION [1-128]......> 1-128 AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ..................................> 50 CONFIGURATION OF ALPG NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..........................................> 4 ONFIGURATION OF PDS NUMBER OF CYCLE PALETTE [8,16] ...........................> 8 CONFIGURATION OF DBM DBM OPTION EXIST[Y,N] ..........................................> YES SIZE OF DBM BOARD [1-2] [1:256K? 2:1M] ..................> 2 CONFIGURATION OF FM NUMBER OF FM BOARD [0,4,8] ...................................> 4 NUMBER OF AFM MODULE [0,8] ..................................> 8 SIZE OF AFM BOARD [1-2] [1:4M] 2:16M] .....................> 1.
L "équipement de test final de puces semi-conductrices est le système de détection de microcontrôlateur T 5592. Il est conçu pour le test au niveau de la plaquette et de l'appareil des microprocesseurs HPC (High Pin Count), des mémoires et d'autres appareils qui nécessitent un grand nombre de données et de broches de test électrique. Système T 5592 est une excellente solution pour les fabricants de dispositifs qui nécessitent un processus de test rapide et efficace. La version T 5592 offre des capacités de test totales grâce à une architecture intégrée. Cette unité dispose d'une combinaison de logiciel Maximus et de matériel VectorStar qui sont en mesure de contrôler les tests des appareils, les interfaces, le contrôle et l'analyse des résultats. Le logiciel Maximus fournit des tests parallèles jusqu'à 32x, permettant aux utilisateurs de réduire le temps et le coût des tests. Une des principales caractéristiques de la machine T 5592 est sa conception évolutive, capable de tester jusqu'à 512 broches. L'outil permet des tests paramétriques et fonctionnels complets, grâce à ses E/S haute vitesse et ses capacités ADC haute résolution. Il offre également plusieurs modes de test, y compris des modes de pré-test pour les tests au niveau des plaquettes, ainsi que le remplacement, la réparation et la caractérisation des appareils pour maximiser le débit de test. ADVANTEST T 5592 offre la résolution de sensation la plus haute possible pour l'épreuve d'appareil, en soutenant l'exactitude maximum et l'assurance de la qualité. Plate-forme de données Le test Asset-on-Chip est également fourni avec ses capacités de test à grande vitesse. Il propose également des bibliothèques intégrées d'algorithmes de test à grande vitesse qui permettent un parallélisme élevé et une mise en œuvre rapide de tests de puissance, d'impédance et d'autres tests à grande vitesse. Le principal avantage du T 5592 est qu'il offre des résultats d'essai de haute qualité, reproductibles et cohérents. Cela signifie que les fabricants de dispositifs peuvent faire confiance aux résultats de leurs tests de dispositifs. Le modèle est également capable de s'adapter aux changements de conception et de fabrication, ce qui en fait un excellent choix pour les testeurs haut de gamme. Grâce à son architecture intégrée et à son design évolutif, la technologie de test de test T 5592 offre des tests rapides et efficaces, aidant les fabricants de dispositifs à rester en avance sur le marché très concurrentiel des essais de semi-conducteurs. Cet équipement est la solution parfaite pour des tests de haute qualité et de haute précision des dispositifs semi-conducteurs.
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