Occasion ADVANTEST T 5593 #9316700 à vendre en France
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ID: 9316700
Tester
(2) M6542AD
/DIAG/G
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ..........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
(0:NOT EXIST 1:NORMAL BOARD 2:HSC BOARD)
1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 2
3 3 4 5 9 0 0 1 6 6 7 7 2 3 3 4
3 9 5 1 7 3 9 5 1 7 3 9 5 1 7 3
A A A A A A A A A A A A A A A A
CHILD A1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1
CHILD A3 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
(0:NOT EXIST 1:NORMAL BOARD 2:HSC BOARD)
1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 2
3 3 4 5 9 0 0 1 6 6 7 7 2 3 3 4
3 9 5 1 7 3 9 5 1 7 3 9 5 1 7 3
A A A A A A A A A A A A A A A A
CHILD A1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1
CHILD A3 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [11- 64] ...........> 1-64
10V PPS CONFIGURATION [1-320] ...........> 1-320
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [11- 64] ...........> 1-64
10V PPS CONFIGURATION [1-320] ...........> 1-320
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ...........> 60
CONFIGURATION OF ALPG
SUBALPG OPTION EXIST [Y,N] .........................> NO
CONFIGURATION OF PDS
SUFFIX OF PDSDR [1 :NONE,2:X02] .....................> 1
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST [Y,N] .............................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0,2,4,8] ........................> NO
SIZE OF FM BOARD [1:2Q2:4G] ......................> NO
FM ADDRESS DELAY [1:0-7,2:0-15] ...................> NO
CONFIGURATION OF SC
DQS ANALIZER OPTION EXIST [Y,N] ....................> NO
ENDSAVE
=
/LOG OFF.
ADVANTEST T 5593 est un équipement d'essai final extrêmement avancé pour les circuits intégrés (ICs). Il offre de nombreuses fonctionnalités et avantages pour permettre des tests et une évaluation efficaces du matériel. Le système comprend un contrôleur et une carte associée pour la commande des prises de test. Il fournit un support pour une large gamme de boîtiers IC, y compris les dispositifs traversants et de montage en surface, ce qui le rend adapté à la plupart des exigences d'essai. Le contrôleur comporte 16 canaux, fonctionnant jusqu'à 500 MS/s par canal. Il comprend également un convertisseur numérique-analogique avancé (CAD) pour fournir les signaux nécessaires pour tester les IC haute fréquence. L'unité de test est capable d'effectuer des acquisitions précises de temps et de traces de signaux de 0,1 Hz à 500 MHz. La machine de test offre également une gamme de fonctionnalités de test avancées, telles qu'une bibliothèque embarquée pour l'automatisation et la programmation, des options de mémoire étendue, des capacités de contrôle de script, et plus encore. Il prend en charge une variété d'instruments de test, tels que les oscilloscopes, les analyseurs logiques et les analyseurs de réseau, ainsi que de puissants outils d'analyse et de simulation. L'outil comprend également une cellule de test hautement automatisée qui permet l'exécution de tests avec une intervention manuelle minimale. Tous les tests sont modulaires, assurant un entretien facile. L'actif de test peut également être configuré pour l'intégration avec d'autres périphériques et machines, pour des tests de production hautement automatisés. Le SCEE T5593 offre un moyen efficace et efficient de tester et d'évaluer les IC. Il permet des mesures précises du moment, ainsi que des fonctions de test avancées pour les tests automatisés. Le modèle peut être intégré dans les lignes de production, fournissant des résultats fiables et cohérents. Il est adapté à la plupart des exigences de test, et sa bibliothèque de test puissant assure qu'il reste un outil très efficace et efficace.
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