Occasion ADVANTEST T 5781ES #9081300 à vendre en France

ADVANTEST T 5781ES est un équipement d'essai final conçu pour fournir des types d'essai différents pour soutenir des produits digitalisés extrêmement denses, économiques. Avec une plate-forme intégrée supportant une gamme de méthodes de test, y compris des tests logiques, des tests chronologiques et des tests paramétriques, le système est conçu pour rationaliser le processus de test et mettre les produits sur le marché plus rapidement avec des résultats améliorés. ADVANTEST T5781ES offre une épreuve logique à grande vitesse avec les temps de cycle en variant de 900 à 3,600 MHz. Il combine une structure d'unité de faible quantité (LQS) avec une structure de mise en page en ligne, créant une machine de test qui est équipée de plusieurs outils pour effectuer des tests de haute bande passante rapidement et avec précision. La structure LQS utilise un petit nombre de noyaux multi-processeurs qui contiennent à la fois des programmes de tests logiques et temporels. Cela garantit que les tests sont rapides et permettent l'utilisation d'espaces d'essai plus petits, ce qui réduit le coût des tests. Le test de cadencement intégré fonctionne sur une horloge outil capable de vitesses allant jusqu'à 4GHz et plus. Cela permet la transmission de signaux à un rythme beaucoup plus rapide, améliorant à la fois la vitesse et la précision des résultats des essais. Le test de timing est conçu pour analyser la performance des actifs et analyser le timing entre plusieurs signaux rapidement. T 5781ES est également équipé de tests paramétriques, permettant d'améliorer les performances ainsi qu'une analyse complète des paramètres dans une plage de fréquences spécifiée. Ces tests sont souvent utilisés pour déterminer si un dispositif a un gain spécifié, un chiffre de bruit, un rapport de conversion et d'autres paramètres. Les tests paramétriques sont particulièrement utiles pour tester une variété de dispositifs RF dans un seul modèle. T5781ES est conçu pour soutenir une gamme de technologies d'appareils, y compris SiP avancé, WLCSP, et MEMS. En outre, il fournit un support de résolution de 5 nanomètres pour une grande variété d'applications d'appareils. Ce test haute résolution prend en charge des conceptions complexes de produits à faible charge, permettant d'améliorer la précision des essais et des rendements plus élevés. Dans l'ensemble, le test T 5781ES est un équipement d'essai final puissant qui prend en charge divers types d'essais et prend en charge les nouvelles technologies d'appareils. Avec ses tests intégrés, logiques et chronologiques à grande vitesse, ainsi que des tests paramétriques, il est conçu pour fournir un moyen efficace et rentable de tester des produits très complexes. Ce système est un excellent choix pour tout fabricant cherchant à réduire les coûts de test et de mettre leurs produits sur le marché plus rapidement.