Occasion ADVANTEST T 6563 #9311730 à vendre en France
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ID: 9311730
Tester
Temperature: 150 C
Prober type: P-8XL
R6581T DVM
AC Power: 50
(3) Control panels
TC4 UNIT
(1) GPIB IF
P-8XL Prober
R6581T DVM
AC Power: 50
(3) Control panel
Temperature: 150°C
TC4 Unit
(2) GPIB IF
DPU:
1 - 32 MDC Channel
1 - 4 UDC Channel
1 - 16 DPS Channel
No DPS HS Mode
(32) TS Counts
Resolution: 3.13E-11
Minimum: 8.00E-09
Maximum: 1.00E-03
Frequency:
Resolution: 0.00E+00
Minimum: 0.00E+00
Maximum: 0.00E+00
SQPG Capacity
VGC: 4194304
CTB: 67108864
TTB: 16777216
DFM Capacity: 256
PGTS Count: 256
FP:
Clock resolution: 3.13E-11
FPTS Count 128
Clock minimum value: 0.00E+00
(4) Clock maximum cycles
Clock maximum delay: 2.56E-04
(4) Maximum multiple clocks
TH Maximum
(4) TH1 Implemented / Kinds
PIN Maximum: 4096
Common pin: 1 - 512
TH1 Pin: 1 - 512
No HRS Option
ALPG/SCPG Option:
SCPG: 4294967296
No ALPG implemented/capacity
No AFM implemented/capacity
No TH1 HSCLK Option
ADDA Option:
Converter: 1 - 4
Dcap: 1 - 4
No IDDQ Option
2002 vintage.
Le test T 6563 est un équipement d'essai final multifonctions multi-sites conçu pour les essais de haute capacité des dispositifs à semi-conducteurs à grande vitesse. Ce système polyvalent comprend une interface flexible, permettant des tests multi-sites d'une unité à plusieurs appareils. Sa technologie de pointe lui permet de répondre aux normes de test les plus élevées, donnant des résultats rapides, reproductibles et fiables. La machine T 6563 utilise une architecture multi-sites pour permettre de tester simultanément jusqu'à quatre appareils sur une seule interface de test. Cette architecture multi-sites utilise un outil de contrôleurs indépendants qui fournissent un contrôle d'interface synchrone et asynchrone à chaque interface de test. Cela permet un plus haut degré de contrôle sur les tests et permet aux petits sites d'essai d'obtenir les mêmes résultats que dans les grands systèmes. La version T 6563 comprend un certain nombre de fonctionnalités avancées pour garantir la précision des résultats des tests. Il comprend une interface tactile intégrée, qui permet une expérience d'exploitation conviviale et une interface utilisateur rapide (QUI) pour une programmation facile. Il comprend également la génération automatique de patrons avant test, et l'acquisition et l'enregistrement de données en temps réel pour une analyse plus approfondie. T 6563 est capable de tester une variété d'appareils, allant des DRAM et SRAM de pointe aux appareils logiques programmables haut de gamme. Il offre des vitesses de test jusqu'à 65 MH/s, avec une précision de test améliorée qui est capable de fournir une résolution de 14 bits. En outre, ce modèle peut fournir des téléchargements en ligne de paramètres de test, permettant une gestion efficace des données de test. De plus, la carte de sonde de la série T 6563 fournit une large gamme de cartes pour garantir la plus grande précision possible des tests. Pour les appareils personnalisés, le Flexible Card Montage Equipment permet de tester une grande variété de substrats et de types d'emballages. T 6563 offre également des capacités de sondes sans configuration, réduisant les temps de test et les coûts associés. La Solution T 6563 est efficace et fiable pour des applications de test finales à haute vitesse et à haute capacité. Ses fonctionnalités avancées en font une solution idéale pour les applications multi-sites, et sa capacité à tester une large gamme d'appareils permet une grande flexibilité et des économies de coûts.
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