Occasion ADVANTEST T 6671E #9181094 à vendre en France

ADVANTEST T 6671E
Fabricant
ADVANTEST
Modèle
T 6671E
ID: 9181094
Logic tester Board repair type: Repair: Yes SWAP: Yes Stock: Yes.
ADVANTEST T 6671E l'équipement est un système d'essai final puissant qui est conçu à l'essai de production efficace d'appareils de semi-conducteur. C'est une unité polyvalente qui peut être utilisée avec une grande variété de broches, types et paquets d'appareils, y compris les paquets BGA et Leadframe. Les principales caractéristiques de la machine sont son logiciel de contrôle de test avancé, son générateur de signal à haute vitesse basé sur le vecteur et sa puissante interface de testeur. Le logiciel fournit des outils de programmation faciles à utiliser qui permettent aux opérateurs de configurer et d'exécuter des tests rapidement et efficacement sur leur appareil. Le logiciel de contrôle de test comprend également un outil de diagnostic, qui permet aux ingénieurs de diagnostiquer rapidement les défaillances de l'appareil. T 6671E l'outil est équipé avec un générateur de signal basé sur le vecteur à grande vitesse, qui livre un large éventail de signaux d'essai de fréquence variable, voltage et durée. Il supporte également une opération de test parallèle pour des essais simultanés de dispositifs multiples. L'actif dispose également d'une interface de test puissante qui lui permet d'être utilisé avec une large gamme de testeurs, tels que ATE, Boundary Scan, et Oscilloscopic Instruments. Le modèle ADVANTEST T 6671E peut être utilisé pour évaluer une variété de types d'appareil, en incluant des appareils analogiques, ICs numérique, des appareils de pouvoir, des détecteurs, des modules de RF et d'autres circuits intégrés complexes. Il peut également être utilisé pour tester des dispositifs sur des images de plomb, des cartes PC, BGA, et burn-in paquets. L'équipement peut également être utilisé pour des tests de datalogging non destructifs. Les caractéristiques avancées du système T 6671E en font un outil inestimable pour la production de dispositifs semi-conducteurs. Il offre une programmation et un contrôle de test efficaces, une génération de signal rapide et des capacités de test améliorées qui le rendent idéal pour des essais de production à haut volume. L'unité permet également une évolutivité et une flexibilité, ce qui la rend facile à étendre et à adapter aux besoins spécifiques de test de l'appareil.
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