Occasion AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4082F #9411925 à vendre en France

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ID: 9411925
Taille de la plaquette: 6"
Parametric tester, 6" Non-SMIF Type 24- Pin boards N9158-60001 HV-SPGU Pulse generator N9180-N61010 THPS (2) SMU Medium powers: Current measurement resolution: 10 fA Voltage measurement resolution: 2 µV Maximum voltage: 100 V Maximum current: 100 mA SMU High power: Current measurement resolution: 10 fA Voltage measurement resolution: 2 µV Maximum voltage: 200 V Maximum current: 1000 mA 3458A Digital voltage meter: Voltage measurement resolution: 1 µV Level resistant measurement: 1 Ω PC: XW8400 Workstation E3632A Power supply.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4082F Final Test Equipment est un système de test multi-baies et haute performance conçu pour offrir une capacité flexible et des fonctionnalités à valeur ajoutée. Cette unité d'essai est utilisée pour fournir une capacité d'essai complète ; une meilleure isolation des défauts, une couverture fiable et précise des tests et des économies globales. HP 4082F est une machine multi-baies qui est facilement configurable aux besoins du client, offrant une gamme de modules pour répondre aux exigences de test les plus exigeantes. Le module principal comprend six zones d'essai distinctes, dont un oscilloscope, un DMM, un DCS +, des sondes de courant et des sondes logiques. Chaque point de test peut être configuré individuellement pour l'application spécifique. Le module Oscilloscope a une vitesse d'échantillonnage maximale de 20V/s et est capable de stocker jusqu'à 128 cycles de chaque mesure. Le DMM bi-mode mesure la tension, le courant et la résistance et dispose d'un arrière-plan graphique pour fournir des valeurs d'entrée et de sortie en temps réel pour chaque canal. Le module DCS + ajoute des capacités supplémentaires de capture numérique et d'analyse logique. AGILENT 4082F offre également une flexibilité de test améliorée avec l'option de sondes de courant supplémentaires et de sondes logiques. Les sondes de courant sont capables de capturer des paramètres dynamiques avec jusqu'à 60V de tension de crête, tandis que les sondes logiques disposent d'une mémoire non volatile intégrée qui peut stocker jusqu'à 4096 événements à 1MHz. L'architecture globale de KEYSIGHT 4082F fournit à la fois des tests efficaces et des résultats fiables et précis. En fournissant des capacités multi-baie, l'outil peut être configuré pour fournir une couverture de test complète, tout en offrant une meilleure isolation des défauts. Cet atout combine une couverture complète des tests et une meilleure isolation des défauts, permettant des tests efficaces et fiables qui permettent des résultats précis et des économies, ce qui en fait une solution idéale pour les applications de test finales.
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