Occasion FET TEST 3600E #293606077 à vendre en France

FET TEST 3600E est un équipement d'essai final avancé et complet conçu pour répondre aux besoins actuels de fabrication de semi-conducteurs. 3600E intègre un système informatique intégré qui permet aux utilisateurs d'exécuter une variété de tests d'appareil rapidement et avec précision, juste sur le plancher de l'usine. FET TEST 3600E se compose d'une plate-forme matérielle de haute puissance, d'une unité de sécurité aux rayons X, de la surveillance des processus et d'une suite logicielle flexible. La plate-forme matérielle se compose d'un processeur multi-socket (chaque socket avec deux noyaux), de cartes Ethernet Dual Gigabit, et jusqu'à deux canaux indépendants pour tester les appareils. Cela permet des essais rapides et efficaces de divers IC et appareils de produits dans une variété de configurations de conception. Côté logiciel, 3600E Suite prend en charge plusieurs protocoles, plates-formes et périphériques standard de l'industrie, tels que Ethernet et USB. La Suite se compose de plusieurs programmes, comme un outil de caractérisation des appareils ; Intégrateur de processus ; Machine de numérotation série, conversion d'horloge et moniteur de paramètres. Cela permet à l'utilisateur de surveiller et de caractériser les performances d'un appareil tout au long du processus de production. FET TEST 3600E comprend également un outil de radiographie, qui aide l'utilisateur à identifier les points critiques dans la conception de l'appareil qui auraient pu être négligés ou endommagés pendant le processus de fabrication. L'actif radiographique analyse la structure interne de l'appareil afin d'identifier les zones qui pourraient nécessiter une fabrication supplémentaire ou améliorée. Enfin, 3600E comprend également une fonction étendue de surveillance des processus, qui peut surveiller en détail le processus de production d'un appareil. Le moniteur de processus aide l'utilisateur à sécuriser les performances de l'appareil en détectant rapidement les erreurs ou les dysfonctionnements qui pourraient avoir eu lieu pendant la production. FET TEST 3600E est conçu pour économiser du travail et augmenter la valeur pour l'industrie de fabrication de semi-conducteurs. Sa polyvalence et ses performances fiables en font un excellent choix pour les tests de production d'appareils. Sa flexibilité, le modèle de sécurité aux rayons X, la surveillance des processus et la suite logicielle, font de 3600E une solution fiable et efficace pour tous les besoins de test des appareils.