Occasion LORLIN Double Impact #184587 à vendre en France

Fabricant
LORLIN
Modèle
Double Impact
ID: 184587
Discrete component test system Specifications: 3-pin capability: emitter, base, and collector Leakage tests Voltage source - 1.000 V - 600.0 V Current meas. - 100.0 pA - 200.0 mA Voltage breakdown tests Current source - 1.000 uA - 1.000 A Voltage meas. - 100.0 mV - 600.0 V ON tests Base current - 10.00 uA - 20.00 A Collector current - 10.00 uA - 20.00 A Voltage meas. - 1.000 mV - 15.00 V 2000 V, 500 A Includes (2) test stations for small signal and power semiconductors (3) Test station capability standard, expandable to (5) stations with an optional SEU-220 expansion unit Available options: AC option SCR option VX option HCM-201 HVS-201 SS-100 SS-150 SEU-100 System will test, classify, sort, evaluate, grade, and screen the key parameters of devices such as transistors, diodes, fets, rectifiers, zeners, IGBTs, Opto-Coupled, bridges and other related parts Test library includes tests to perform breakdown voltages, leakage currents, gain tests, saturation, on-state and off-state type tests on the components PC with a Dell flat screen monitor, keyboard and mouse Lorlin Windows software.
LORLIN Double Impact (LORLIN DI) est un équipement d'essai final conçu pour évaluer la performance des appareils électroniques dans un processus d'essai en deux étapes. Le système peut être utilisé dans les tests de chaîne d'assemblage, les tests de centre de service et les environnements de laboratoire d'essais techniques. Les tests de la première étape sont appelés « pré-tests » et sont conçus pour identifier rapidement les zones faibles d'un dispositif, ce qui permet d'identifier et de traiter les problèmes potentiels avant la deuxième étape d'essai. Pendant le pré-test, LORLIN DI utilise des algorithmes automatisés de balayage d'unités pour repérer tout problème potentiel. Ces données sont ensuite analysées et priorisées par la machine pour un examen plus approfondi. Les tests de la deuxième étape sont appelés « post-tests » et utilisent des méthodes de diagnostic plus détaillées pour confirmer ou réfuter les résultats du pré-test. Pendant la phase post-test, LORLIN DI se connecte au dispositif testé et effectue diverses opérations telles que des tests mémoire et des cycles de puissance. L'outil est également capable de détecter les joints de soudure froide et d'évaluer la résistance d'isolation, les paramètres de commutation, les essais de diodes et d'autres critères importants. L'actif effectue également des inspections 3D en temps réel pour s'assurer que les pièces, matériaux et composants sont maintenus dans le bon contexte. Si des problèmes sont détectés par ces tests « post », la technologie peut automatiquement arrêter un processus de fabrication, alertant les utilisateurs sur le problème. LORLIN DI est conçu avec un design modulaire et évolutif pour être facilement adapté aux besoins des différentes applications et échelles d'utilisation. Il est conçu pour fournir jusqu'à 900 broches d'essai qui peuvent être reliées à divers testeurs de sonde, permettant aux fabricants de tester et de contrôler plusieurs appareils en parallèle. En tant que modèle d'essai double impact, LORLIN DI intègre également des capacités d'essais mécaniques et électriques, fournissant des solutions d'essais polyvalentes sur une seule plate-forme. L'équipement offre également des capacités avancées d'isolation et de réparation des défauts. Lors des tests, les utilisateurs peuvent accéder à des écrans de diagnostic en temps réel pour détecter et identifier avec précision les défauts et l'emplacement de leur source avant de pouvoir les corriger. L'interface utilisateur graphique affiche des rapports avec des résultats de test et des emplacements de défaut qui peuvent être sauvegardés pour une utilisation future. Dans l'ensemble, LORLIN Double Impact offre un système d'essai final complet pour l'évaluation des appareils électroniques. Le processus d'essai en deux étapes, les capacités avancées d'isolation et de réparation des défauts, ainsi que les résultats des essais en temps réel permettent d'évaluer et de tester les appareils rapidement, précisément et de façon rentable. La conception modulaire et évolutive de l'unité le rend adapté à une gamme d'applications, de la fabrication à haut volume aux environnements de laboratoire d'essais techniques.
Il n'y a pas encore de critiques