Occasion LTX-CREDENCE D10 #293767545 à vendre en France

Fabricant
LTX-CREDENCE
Modèle
D10
ID: 293767545
Style Vintage: 2007
Tester DPS16 VIS16 Manipulator Host Name : D10-16 OS Information : Linux Kernel 2.4.21-4.0.1.EL ( Red Hat Linux 3.2.3-20 ) DMD Software Ver : v2.1.1_BLD4 RF Client Ver : 2.2.6.6 08.21.2006 CPU Speed : 3600.276 MHz Cache Size : 0 KB Memory Size : 2064196 kB Total, 933904 kB Free Swap Size : 2096440 kB Total, 2096440 kB Free Disk Size : 109170848 kB Total, 69778676 kB Free Date & Time : Tue Apr 08 11:33:57 2025 ============================================================================================================ TEST HEAD INFORMATION ============================================================================================================ Tester Mode : online ------------------------------------------------ Chassis 0 ------------------------------------------------ # Slot Board Name Version Revision DeviceID Part Number FPGA Revision Timing Vendor Serial Number === ==== ========== ======= ======== ======== ============= =============== ======== ======== ============= BPM (Bus) 0 0 1. 4. 6 6192 1 0 DD1096-16 1 0 21584 671-5450-91 BI= 6. 2. 1 New IC= 3. 8. 5 MC0= 4. 7. 3 MC1= 4. 7. 3 2 1 DD1096-16 1 0 21584 671-5450-91 BI= 6. 2. 1 New IC= 3. 8. 5 MC0= 4. 7. 3 MC1= 4. 7. 3 3 2 DD1096-16 1 0 21584 671-5450-91 BI= 6. 2. 1 New IC= 3. 8. 5 MC0= 4. 7. 3 MC1= 4. 7. 3 4 3 DD1096-16 65535 65535 21584 671-5450-30 BI= 6. 2. 1 New IC= 3. 8. 5 MC0= 4. 7. 3 MC1= 4. 7. 3 5 4 DPS16 1 0 21588 672-6136-07DA BI= 0. 0. 6 IC= 0. 0. 12 6 8 DPS16 1 0 21588 672-6136-07DA BI= 0. 0. 6 IC= 0. 0. 12 7 9 DIBU 1 0 28741 671-7045-10AB BI= 1. 7. 1 IC= 1. 5. 2 2007 vintage.
LTX-CREDENCE D10 Final Test Equipment est une solution de test complète pour les clients qui cherchent à optimiser leur flux de test de fabrication. Il est conçu pour permettre des essais d'assemblage multi-sites et multi-produits, tout en maximisant le temps et l'efficacité des ressources. Le système est alimenté par un processeur Intel, et dispose d'une mémoire haute efficacité pour assurer l'exécution ultra-rapide des tests. L'unité prend également en charge les pilotes de périphériques programmables extensibles (EPDD), permettant de prendre en charge une grande variété d'environnements de test et de fonctionnalités de test. LTX-CREDENCE D-10 Final Test Machine dispose d'une architecture de cellule de test modulaire pour une configuration et une expansion faciles. Il comprend une plate-forme logicielle d'architecture ouverte basée sur Linux pour le développement et l'exécution de tests efficaces. Avec une interface utilisateur graphique simple, les utilisateurs peuvent personnaliser et mettre à jour les tests rapidement et sans une connaissance approfondie de la programmation. L'outil utilise également une plate-forme de test de balayage haut de gamme pour le balayage à grande vitesse et la détection de précision des petits interrupteurs et autres composants électriques. Une option de vision 3D est également disponible pour la reconnaissance complète des objets 3D. Au cœur de l'actif se trouve un exécutif de test Credence DestKop, qui permet des essais rapides avec une excellente traçabilité et une gestion efficace des tests à grande échelle. Il supporte également l'exécution de tests en parallèle, ce qui le rend capable d'exécuter des centaines de canaux de test simultanément, permettant de tester simultanément des produits de plusieurs sites avec un maximum d'efficacité. En outre, le modèle est équipé d'outils spécialisés pour le DFT (Design for Testability) comprenant une intégration et une implémentation efficaces des règles DFT, une simulation puissante et une archivage et une analyse des résultats des tests qui permettent de gagner du temps. Enfin, des capacités avancées de diagnostic de l'équipement et d'exportation de la bibliothèque sont disponibles pour faciliter la programmation efficace de l'appareil, la détection de l'insertion d'étiquettes et la mesure de la précision des points de pointage. Globalement, avec ses capacités avancées et son architecture ouverte, le D 10 Final Test System est une solution idéale pour les fabricants à la recherche d'un débit de test optimisé et d'une efficacité maximale. Il peut contribuer à réduire les coûts opérationnels, tout en augmentant la couverture des tests, la traçabilité et le débit.
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