Occasion LTX-CREDENCE D10 #9200115 à vendre en France

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Fabricant
LTX-CREDENCE
Modèle
D10
ID: 9200115
Style Vintage: 2009
Tester PC: Super micro 2.4G Slot / Type / Part number 0 / DPIN 96 / 671-5450-91B 1 / DPIN 96 / 671-5450-81A 2 / DPIN 96 / 671-5450-91B 3 / DPIN 96 / 671-5450-91B 4 / DPS16 / 672-6136-07A 5 / VIS 16 / 672-6194-11CA 9 / DIBU / 671-7045-10AD Backplane / Passive MB / - Backplane / Mezzanine / - 2009 vintage.
LTX-CREDENCE D10 est un équipement robuste, complet et d'essai final conçu pour la production des composants électroniques les plus avancés. Le système peut effectuer des tests complets à grande vitesse pour des centaines d'appareils simultanément dans une plate-forme compacte et résistante aux vibrations. Cette unité est capable de surveiller un large éventail de caractéristiques telles que la tension, le courant, la puissance, la fréquence, le bruit et l'intégrité du signal. Sa technologie Multi-Panel Test (MPT) fournit des tests complets de performance électrique sur le circuit intégré (IC). La technologie MPT peut être configurée pour mesurer la tension, le courant, la puissance, la gigue et la fréquence des réponses de DC à 100 MHz avec précision jusqu'au niveau nanoseconde. LTX-CREDENCE D-10 propose également des solutions d'essai complètes pour des propriétés électriques et physiques avancées, incluant des mesures de température et de pression. Sa capacité avancée d'essai thermique et de surveillance permet de rapporter et d'analyser les températures des matrices et des emballages, ce qui permet d'assurer le bon fonctionnement et la fiabilité d'un certain nombre de composants. De même, les mesures RF et micro-ondes avancées de la machine aident à confirmer la conformité aux normes de l'industrie. L'environnement logiciel de l'outil est configuré de telle sorte qu'un large éventail de tests et de méthodes d'analyse peuvent être effectués facilement. Son interface conviviale le rend facile à configurer, exécuter et stocker des tests. Il fournit également des résultats graphiques en temps réel qui peuvent être analysés sémantiquement pour améliorer le diagnostic. En outre, l'actif prend en charge des suites de tests personnalisés utilisant une large gamme d'instruments de test et de mesure standard et personnalisés, permettant l'évolutivité. Les tests tels que les essais à un seul événement et les essais en circuit court peuvent être facilement programmés et déployés, tandis que les rapports d'analyse automatisés et la documentation peuvent être générés à partir des résultats des tests. Dans l'ensemble, le D 10 fournit une solution complète et rapide pour tester et diagnostiquer les IC les plus avancés. Ses capacités de détection et de surveillance avancées permettent au modèle de fournir des résultats précis et reproductibles en une empreinte minimale, tandis que son interface conviviale simplifie la configuration et la gestion des tests.
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