Occasion LTX-CREDENCE Kalos XW #9270568 à vendre en France

LTX-CREDENCE Kalos XW est un équipement complet de « test final » conçu pour les essais à grande échelle, robustes et rapides des IC complexes (circuits intégrés). Il est équipé d'une suite complète d'ongles, de testeurs de limites de couverture complète, de systèmes avancés de test hors ligne à haute vitesse et de tests au niveau de la boîte. Ce système est conçu pour des applications d'essai comportant des caractéristiques de haute fréquence et d'intégrité du signal associées aux IC pour un large éventail de segments de marché. L'unité comprend un sous-système de diagnostic de carte, une tête de test, un environnement de test automatisé (ATE) et plusieurs interfaces utilisateur. Le sous-système de diagnostic de la carte exécute toute la chaîne d'essais sur les CI, de la mise sous tension aux essais fonctionnels, y compris les essais automatiques et manuels. Le sous-système de diagnostic de la carte est complété par la tête de test, qui permet des tests multicanaux avec une combinaison optimisée de matériel, de logiciels et de sondes. En outre, l'ATE offre une plateforme puissante, mais intuitive, pour développer des environnements de test exacts pour différents cas de test et types d'IC. En outre, Kalos XW fournit une large gamme d'interfaces utilisateur, y compris RS-232, USB, Ethernet et GPIB (General Purpose Interface Bus). Ces interfaces permettent d'accéder au contrôle automatique des séquences de test, au contrôle des fixations et à l'analyse des résultats de test. La capacité de pointe de la machine est encore améliorée avec des capacités de test structurales et fonctionnelles qui supportent une planche monobloc à panneaux multicouches haute densité. Les cartes de comptage à broches élevées peuvent être testées avec plusieurs têtes de test avec une couverture de défaut sans jonction pour rapidement isoler et caractériser les défauts. LTX-CREDENCE Kalos XW prend en charge les plates-formes 32 et 64 bits, pour accueillir la majorité des conceptions IC, avec plusieurs plates-formes de cœur ATE et des capacités de test à haut débit allant jusqu'à 192 broches. Dans le même temps, Kalos XW fournit un temps de test rapide même lors de tests d'IC complexes, tels que microprocesseurs, mémoire, et FPGA. Les interfaces de test à haute vitesse comprennent des technologies de sondes optiques avancées, des tests en courant continu à basse tension, des sondages automatisés et un contrôle de la température. De plus, l'outil intègre des outils avancés d'acquisition de données, des fonctions d'analyse et un langage de script puissant, permettant un prototypage rapide de programmes de test complexes. En outre, LTX-CREDENCE Kalos XW prend en charge les dernières avancées technologiques et comprend une couverture étendue des défauts, une analyse statistique approfondie, des outils de visualisation de pointe et un contrôle 100 % transparent des signaux de chargement et de déchargement. En outre, des diagnostics automatisés de réponse à la carte, une cartographie automatisée de la couverture des défaillances et des techniques de quantification avancées font partie des fonctionnalités disponibles. En conclusion, Kalos XW est un atout révolutionnaire « test final » qui est conçu pour les exigences de test les plus difficiles. Il offre des capacités puissantes, permettant aux clients de développer rapidement des tests robustes, fiables et à grande vitesse pour leurs appareils les plus avancés.