Occasion LTX-CREDENCE Quartet #9213487 à vendre en France

Fabricant
LTX-CREDENCE
Modèle
Quartet
ID: 9213487
Style Vintage: 1990
Tester Prober interface Pogo tower PIB Board Digital and DSP analog per-pin architecture Digital and mixed-signal Fully pin mapped Multisite testing Digital I/O channels: 32 to 512 Formatted data I/O: 200 MHz Clock data I/O: 200 MHz Memory: 8 Meg vector to 64 Meg vector Switch: Period and timing sets Synchronous clock: 128 per Digital pins Low jitter Source / Measure synchronization DSP Analog channels: 4 to 128 Independent scan memory Full spectrum of impedance matched Differential DSP instruments Independent DSP processor per capture instrument Phase coherent: Superclock per DSP instrument Integrated analog and digital UNIX Based workstation Fully integrated network and prober / Handler interfaces (2) Analog segments (4) Independent digital subsystems Test tool Clock speed: 150 MHz Scan: 256 M MP Type: Hinge 256 Channels (2) DPS Vector memory: 16 M PMU 64 Channels: 4 PE Card 8 channels: 32 VI8: 1 DIST B/D: 4 PPM 16 Channels: 16 Cycle length 128 channels: 2 Heat output / Displacement: 20,600 kCal (86,520 J)/100 m³/m Power supply: 187-228 VAC, 3 Phase 1990 vintage.
LTX-CREDENCE Quartet est un équipement d'essai final conçu pour fournir un test complet des dispositifs semi-conducteurs. Le système combine quatre outils essentiels dans une plate-forme compacte ; un testeur paramétrique, un traceur de courbe, une unité d'inspection des plaquettes semi-conductrices et une interface automatisée. Les quatre outils sont intégrés dans un même équipement, ce qui permet d'améliorer l'efficacité et la commodité dans les essais de production des composants semi-conducteurs. La machine de test Quartet dispose d'un testeur paramétrique pour tester des paramètres tels que le gain et la vitesse de rotation des circuits intégrés. Le testeur paramétrique est capable de tester à la fois les composants statiques et ceux ayant des caractéristiques dynamiques. Il peut également être utilisé pour tester une filière semi-conductrice ainsi qu'une variété de configurations d'emballage différentes. L'outil propose également un traceur de courbe de plaquettes programmable pour tester des plaquettes semi-conductrices ou des transistors à couches minces. Cet outil est capable de mesurer le courant, la tension et la capacité, et peut être utilisé pour analyser les caractéristiques électriques de petits dispositifs semi-conducteurs. L'actif d'inspection de LTX-CREDENCE Quartet offre une vue complète des dispositifs semi-conducteurs testés. Ce modèle est capable de prendre rapidement des photographies des composants, produisant des images haute résolution qui peuvent être utilisées pour déterminer si des défauts sont présents. L'équipement comprend également des algorithmes avancés pour détecter toute anomalie dans la forme physique des dispositifs. Les images produites par le système sont automatiquement stockées dans un nuage sécurisé et peuvent être rapidement référencées plus tard dans le processus de production. Enfin, Quartet offre une interface intuitive et automatisée qui permet un fonctionnement facile sans intervention manuelle. Cette interface permet aux utilisateurs de configurer rapidement et facilement l'unité pour une variété de tests, réduisant le temps de configuration et améliorant la productivité. Pour toutes ces raisons, LTX-CREDENCE Quartet est une machine de test finale attrayante pour la production de semi-conducteurs. Sa capacité à combiner quatre outils essentiels permet de tester rapidement et facilement les circuits intégrés, les plaquettes et d'autres composants, tandis que son interface intuitive le rend facile à utiliser. Dans l'ensemble, cet outil est un excellent choix pour toute tâche de test de semi-conducteur.
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