Occasion LTX-CREDENCE Quartet #9213487 à vendre en France
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ID: 9213487
Style Vintage: 1990
Tester
Prober interface
Pogo tower
PIB Board
Digital and DSP analog per-pin architecture
Digital and mixed-signal
Fully pin mapped
Multisite testing
Digital I/O channels: 32 to 512
Formatted data I/O: 200 MHz
Clock data I/O: 200 MHz
Memory: 8 Meg vector to 64 Meg vector
Switch: Period and timing sets
Synchronous clock: 128 per Digital pins
Low jitter
Source / Measure synchronization
DSP Analog channels: 4 to 128
Independent scan memory
Full spectrum of impedance matched
Differential DSP instruments
Independent DSP processor per capture instrument
Phase coherent: Superclock per DSP instrument
Integrated analog and digital
UNIX Based workstation
Fully integrated network and prober / Handler interfaces
(2) Analog segments
(4) Independent digital subsystems
Test tool
Clock speed: 150 MHz
Scan: 256 M
MP Type: Hinge
256 Channels
(2) DPS
Vector memory: 16 M
PMU 64 Channels: 4
PE Card 8 channels: 32
VI8: 1
DIST B/D: 4
PPM 16 Channels: 16
Cycle length 128 channels: 2
Heat output / Displacement: 20,600 kCal (86,520 J)/100 m³/m
Power supply: 187-228 VAC, 3 Phase
1990 vintage.
LTX-CREDENCE Quartet est un équipement d'essai final conçu pour fournir un test complet des dispositifs semi-conducteurs. Le système combine quatre outils essentiels dans une plate-forme compacte ; un testeur paramétrique, un traceur de courbe, une unité d'inspection des plaquettes semi-conductrices et une interface automatisée. Les quatre outils sont intégrés dans un même équipement, ce qui permet d'améliorer l'efficacité et la commodité dans les essais de production des composants semi-conducteurs. La machine de test Quartet dispose d'un testeur paramétrique pour tester des paramètres tels que le gain et la vitesse de rotation des circuits intégrés. Le testeur paramétrique est capable de tester à la fois les composants statiques et ceux ayant des caractéristiques dynamiques. Il peut également être utilisé pour tester une filière semi-conductrice ainsi qu'une variété de configurations d'emballage différentes. L'outil propose également un traceur de courbe de plaquettes programmable pour tester des plaquettes semi-conductrices ou des transistors à couches minces. Cet outil est capable de mesurer le courant, la tension et la capacité, et peut être utilisé pour analyser les caractéristiques électriques de petits dispositifs semi-conducteurs. L'actif d'inspection de LTX-CREDENCE Quartet offre une vue complète des dispositifs semi-conducteurs testés. Ce modèle est capable de prendre rapidement des photographies des composants, produisant des images haute résolution qui peuvent être utilisées pour déterminer si des défauts sont présents. L'équipement comprend également des algorithmes avancés pour détecter toute anomalie dans la forme physique des dispositifs. Les images produites par le système sont automatiquement stockées dans un nuage sécurisé et peuvent être rapidement référencées plus tard dans le processus de production. Enfin, Quartet offre une interface intuitive et automatisée qui permet un fonctionnement facile sans intervention manuelle. Cette interface permet aux utilisateurs de configurer rapidement et facilement l'unité pour une variété de tests, réduisant le temps de configuration et améliorant la productivité. Pour toutes ces raisons, LTX-CREDENCE Quartet est une machine de test finale attrayante pour la production de semi-conducteurs. Sa capacité à combiner quatre outils essentiels permet de tester rapidement et facilement les circuits intégrés, les plaquettes et d'autres composants, tandis que son interface intuitive le rend facile à utiliser. Dans l'ensemble, cet outil est un excellent choix pour toute tâche de test de semi-conducteur.
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