Occasion LTX-CREDENCE Sapphire 40 #9189360 à vendre en France
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ID: 9189360
Style Vintage: 2007
Tester
Data rate: 800 Mbps
Borad types:
I/F
(2) D3208
(2) 6AmDPS
(2) PWR WUP, AC-DC, 24V
(12) D4032
2007 vintage.
LTX-CREDENCE Sapphire 40 Final Test équipement est une plate-forme riche en fonctionnalités et rentable pour les fonctions avancées de test de plaquettes. Il est conçu pour répondre aux besoins critiques de l'environnement extrême des applications de test de plaquettes avec des fonctionnalités avancées. Le système dispose d'une interface utilisateur avancée qui prend en charge l'automatisation sophistiquée et le contrôle de la facilité d'utilisation. Avec ses outils intégrés, l'unité permet plus de précision et d'efficacité dans les processus de test. Sapphire 40 offre la connectivité la plus récente et le design avancé. Il est idéal pour les applications où un certain nombre de mesures complexes doivent être prises, y compris le timing, l'intégrité du signal et les mesures RF. La machine comprend un serveur de mesure de pointe avec un accès puissant à la base de données, une foule de fonctions d'analyse numérique du signal, ainsi que des capacités sophistiquées de synchronisation et d'intégrité du signal. L'outil est conçu pour surveiller et contrôler de façon fiable une variété d'appareils, y compris des composants tels que des photodiodes et des chaînes à retard, des circuits intégrés (IC) et une variété d'autres appareils électriques et électroniques. L'atout fournit également des capacités de programmation avancées telles que la génération de script et la configuration de paramètres, et sa bibliothèque étendue de ports/difficultés d'accès de mesure le rendent facile à travailler avec une grande variété d'appareils. Le modèle offre des relevés et des mesures fiables de haute précision, offrant des performances et une précision qui répondent ou dépassent les normes de l'industrie. L'équipement est très avancé avec une automatisation facile à utiliser avec des interfaces utilisateur avancées. Cela permet aux utilisateurs de construire des méthodes et des programmes de test répétables rapidement et facilement. La plateforme offre également une gamme d'interfaces et de périphériques qui peuvent être configurés pour exécuter des tests personnalisés et évaluer des paramètres sur différents types de composants. Sa flexibilité permet aux utilisateurs de configurer LTX-CREDENCE Sapphire 40 pour diverses applications de test et de mesure. Le système prend en charge la boîte à outils innovante SmartFlex pour le débogage et l'analyse avancés, ainsi que la capacité de capturer les données de traces vivantes d'un appareil en cours de test. Sapphire 40 est une unité extrêmement polyvalente pour une utilisation finale qui est capable de s'attaquer à une gamme d'applications de test et de mesure difficiles. Son interface utilisateur avancée, son automatisation sophistiquée et sa capacité à s'intégrer à d'autres outils et périphériques en font une plate-forme idéale pour une grande variété d'exigences de test.
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