Occasion LTX-CREDENCE Sapphire NP #293625628 à vendre en France

LTX-CREDENCE Sapphire NP est un équipement conçu comme un test final pour divers circuits intégrés (IC). Il dispose d'une méthodologie de test de numérisation avancée qui peut être intégrée dans des solutions de test automatisées pour fournir la plus grande précision et l'intégrité des résultats de test. Le système Sapphire NP offre une combinaison puissante de fonctionnalités qui permettent des tests à haut volume, un temps de test optimisé, le coût le plus bas possible par test, une couverture de défaut supérieure et des résultats très fiables. L'unité utilise une structure de test traditionnelle basée sur l'analyse, avec un ensemble complet d'étapes de test et d'algorithmes de test. Chaque étape de test de numérisation est adaptée à un défaut spécifique, optimisant le test pour la précision et la vitesse de production. Il est capable de générer des motifs de test très fiables à plusieurs centaines de millions d'opérations par seconde. Combinée à une programmation de test de numérisation définie par l'utilisateur, cette fonctionnalité peut réduire considérablement le temps de test et augmenter la précision. En plus de sa capacité de test basée sur la numérisation, la machine LTX-CREDENCE Sapphire NP dispose également de plusieurs paramètres pour personnaliser les procédures de test. Ces paramètres comprennent le test de limite, l'évolutivité de déclenchement, le test de signature, le contrôle du retrait des vecteurs, la réduction du délai d'essai et le contrôle dynamique de la puissance. Ces options de personnalisation garantissent que les utilisateurs peuvent adapter l'outil à leurs exigences de test exactes. L'actif dispose également d'une architecture de balayage hautement configurable qui permet des tests robustes et de faible volume. Il propose l'insertion, le séquençage et l'analyse automatisés de tests parallèles. Cette fonctionnalité permet au modèle de diviser un tableau de test en plusieurs morceaux plus petits, ce qui permet de tester chacune de ces tranches en parallèle. Cela permet d'obtenir des temps de test plus faibles et une plus grande précision dans un large éventail de configurations. Dans l'ensemble, Sapphire NP est un équipement de test avancé à double usage conçu pour fournir des résultats de test ultra-rapides et une couverture de défaut supérieure. Ses fonctionnalités puissantes et son architecture de balayage à haute vitesse en font un choix idéal pour toute application de test IC. Grâce à ses capacités de personnalisation avancées, ce système offre une polyvalence inégalée, permettant aux utilisateurs d'adapter l'appareil à leurs exigences de test exactes.