Occasion LTX-CREDENCE Sapphire NP #9128065 à vendre en France

ID: 9128065
76-Slot IC, Automated test system.
LTX-CREDENCE Sapphire NP (anciennement connu sous le nom de Sapphire Scan NP) est un équipement de test final conçu par LTX-CREDENCE pour répondre à de multiples besoins de test. Le système est disponible dans un ensemble modulaire flexible afin qu'il puisse être personnalisé pour répondre aux besoins individuels. L'unité utilise les fonctionnalités avancées de gestion automatisée des tests de la plate-forme Sapphire. La machine utilise un gestionnaire intégré avec des ports de charge pour divers composants IC de test, des capacités de marquage laser et un outil de rail robotique pour tester la manipulation IC. Cela permet un flux de composants entrant et sortant pour une manipulation entièrement automatisée dans/hors spec, ainsi que des niveaux d'essai et des inspections optiques. Un atout de contrôle de la commande de la télécommande permet la programmation et le contrôle à distance afin que les opérateurs puissent surveiller rapidement l'état et gérer la fabrication des essais IC. La plate-forme permet une large gamme de taux de test et une variété de canaux de test pour le test simultané de plusieurs IC et cartes de sonde. Il peut accueillir une grande variété de tests IC de taille standard dans une plate-forme unique. Le modèle est également livré avec un équipement de vision intégré, lui permettant de positionner avec précision les cartes de sonde lors des manipulations IC de test. Plusieurs configurations de test sont prises en charge, de petites configurations < abbr title = « Device Under Test » > DUT </abbr > s à des configurations avancées multi-pin. Les capacités de gestion de bibliothèque du système permettent un rappel rapide des tests, ce qui permet des essais plus rapides. En outre, l'unité offre une visibilité et des performances de test améliorées grâce à une liste exhaustive de puissants algorithmes de rendement et de test basés sur des logiciels propriétaires. Le logiciel offre des fonctions avancées de traitement des erreurs et de test de réplication, permettant à l'utilisateur de diagnostiquer rapidement les problèmes de rendement et de performance. Un des principaux avantages de la machine réside dans sa flexibilité. Sa vaste gamme de matériel d'outils et d'accessoires permet de répondre à une variété d'applications, y compris le test sur carton, les tests intégrés sur colis et les processus de tests de production. En outre, son interface logicielle simple et intuitive et ses modules de mémoire extensible intégrés permettent aux utilisateurs de programmer, analyser, stocker et déboguer leurs résultats de tests. Enfin, l'actif offre des rapports personnalisables, permettant aux utilisateurs d'évaluer l'état des tests, de surveiller les résultats et d'effectuer des activités de processus telles que des vérifications plus rapides. Dans l'ensemble, Sapphire NP est un modèle d'essai très flexible et très fiable qui peut être utilisé dans une variété d'applications. Ses capacités de traitement automatisé des tests et de contrôle de la commande de la commande de test permettent des cycles de test plus rapides et une meilleure visibilité des tests, tandis que sa gestion de bibliothèque complète permet des rappels de test plus rapides. La vaste gamme de matériel et d'accessoires de l'équipement permet de répondre à une grande variété de besoins de test, ce qui en fait un choix idéal pour toute solution de test IC.
Il n'y a pas encore de critiques