Occasion MOSAID MS 4205 #9071591 à vendre en France

MOSAID MS 4205 Final Test Equipment est une solution avancée de test de semi-conducteurs conçue pour le test de dispositifs avancés de semi-conducteurs. Il offre une solution fiable et efficace pour la caractérisation d'une grande variété de dispositifs semi-conducteurs, y compris des transistors, des diodes et des résistances. Le système est capable de tester jusqu'à 8 Millions d'appareils par heure, assurant des tests rapides et fiables. L'unité est alimentée par une interface logicielle basée sur Windows, MOSAID ScanView™, qui fournit une sonde hautement automatisée, la caractérisation des appareils, le débogage et l'analyse. Il a également été conçu pour soutenir divers scénarios de test, tels que la cartographie par balayage 2D, l'optimisation paramétrique, l'échantillonnage statistique et les tests de fiabilité du niveau de Wafer. De plus, il offre une visualisation simultanée des actionneurs et de l'état des dispositifs. MOSAID MS4205 Final Test Machine dispose de cartes de sonde compatibles pour un large éventail d'applications, permettant à l'utilisateur de personnaliser l'outil de test à leurs besoins. L'actif est également équipé d'une variété de ressources de test, telles que des chambres de température et de vibration, des coupeurs laser, et une variété d'autres ressources de test. La suite logicielle du modèle, MOSAID ProViewPlus, aide à automatiser la configuration des paramètres de test et à dépanner les tests échoués. L'équipement a été conçu pour une flexibilité et une évolutivité maximales, fournissant à l'utilisateur un large éventail de ressources pour accomplir leurs tâches d'essai. Il comprend un PC hôte avec une variété de ports d'entrée/sortie pour interfacer des accessoires externes, tels que des imprimantes, ainsi que des connexions USB, Ethernet et GPIB. Le système dispose également d'un LIM et d'un arrière-plan intégrés, offrant un transfert rapide et fiable des modèles de test et des diagnostics. MS 4205 Final Test Unit est spécialement conçu pour fournir des tests rentables et précis pour une variété de dispositifs semi-conducteurs avancés. Il dispose d'une gamme complète de fonctionnalités et de tests pour une caractérisation facile et des tests de puce, et son évolutivité et ses performances fiables en font une excellente solution pour une grande variété d'applications.