Occasion NEXTEST / TERADYNE Magnum 2560 #9079783 à vendre en France
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ID: 9079783
Test system, 2560 channels
Configuration:
Board PWB PWB PWA PWA LVM DBM ECR1 ECR2 X Y D
Name Number Rev Number Rev SDR/DDR MBits MBits MBits bits bits bits
------------------------------------------------------------------------------------------------------
HSBX 503539 2 507487 9 0 (o) 576 (2) 2304(2) 2304(2) 18* 16* 36*
PEXL_1 507834 1 507835 5
PEXL_2 507834 1 507835 5
PEXL_3 507834 1 507835 5
PEXL_4 507834 1 507835 5
DPX20_1 504582 7 508488 1
DPX20_2 504582 7 508488 2
DPX20_3 504582 7 508488 1
DPX20_4 504582 7 508488 2
IPC 505306 5 505305 17 Firmware Revision : 3.6.2
* NOTE: The ECR X, Y, D bits represent the maximum allowable configuration.
* NOTE: This tester is properly configured to support the 300mA/600mA DPS option.
- Revision Codes for Dimms -
DIMM Base PWA PWA LVM DBM ECR
Name Number Number Rev MVec MBits MBits
---------------------------------------------------------------------
DBM-DIMM1 505479 505942 1 288
DBM-DIMM2 505479 505942 1 288
ECR1-DIMM1 505480 505938 1 1152
ECR1-DIMM2 505480 505938 1 1152
ECR2-DIMM1 505480 505938 1 1152
ECR2-DIMM2 505480 505938 1 1152.
NEXTEST/TERADYNE Magnum 2560 est un équipement de test final à haute vitesse, multi-sites et multifonctions conçu pour aider à commercialiser des produits innovants plus rapidement et plus efficacement. NEXTEST Magnum 2560 est adapté à un large éventail d'applications du marché, telles que l'électronique grand public, le médical, le stockage de données, l'automobile, l'industrie et les communications. TERADYNE Magnum 2560 utilise un tissu de commutation en cascade haute vitesse dans un système de test modulaire universitaire (UMTS) de 4 fentes. Cela permet de tester en parallèle plusieurs sites, ou DUT multiples, assurant une productivité plus élevée en fournissant un degré élevé de parallélisme. Le tissu Cascade Switch offre un haut débit et une faible latence, permettant une isolation et une reconnaissance rapides des défauts. L'architecture de puissance et de mémoire du Magnum 2560 comprend des redondances, des systèmes d'exploitation riches en fonctionnalités et des techniques de consommation d'énergie très efficaces. NEXTEST/TERADYNE Magnum 2560 est capable de fournir jusqu'à 2560 tests par noeud par seconde, chaque noeud mesurant 1 µs. Avec son unité Multi-Test haute vitesse, NEXTEST Magnum 2560 peut configurer jusqu'à 8 noeuds indépendants dans une seule machine, fournissant jusqu'à 20 K tests/seconde en parallèle. TERADYNE Magnum 2560 peut prendre en charge un large éventail d'applications de test telles que des tests de production de signaux mixtes à faible curiosité à haut volume, des tests FIB/sonde à haut volume et des analyses de défaillance à haut volume. Magnum 2560 est un outil de test final très fiable, conçu avec des techniques avancées de détection de défauts et des autodiagnostics continus afin de minimiser le coût de possession. Ces fonctionnalités permettent un faible délai de mise sur le marché et font de NEXTEST/TERADYNE Magnum 2560 la solution idéale pour les tests de production à haut volume. NEXTEST Magnum 2560 dispose également d'une interface utilisateur graphique intuitive, permettant aux ingénieurs d'accéder rapidement aux paramètres de test et de les configurer. Cette conception conviviale et facilement navigable fait de TERADYNE Magnum 2560 un outil essentiel dans le processus de fabrication. Magnum 2560 offre le plus haut niveau de performance, d'évolutivité et de rentabilité. Avec son architecture puissante et flexible, NEXTEST/TERADYNE Magnum 2560 est la solution idéale pour des tests de production à haut volume. Commuter des tissus, du matériel, des systèmes d'exploitation, des diagnostics et des simulations sont autant d'outils qui permettent aux utilisateurs d'effectuer rapidement des tests, d'améliorer la résolution des tests et d'augmenter le débit des actifs. En outre, NEXTEST Magnum 2560 est livré avec une grande variété de modules, la propriété intellectuelle FPGA, et d'autres outils de développement, permettant aux utilisateurs de développer rapidement des solutions de test pour leurs applications.
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