Occasion NEXTEST / TERADYNE Magnum I SSV #293654730 à vendre en France
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NEXTEST/TERADYNE Magnum I SSV est un équipement de test final haut de gamme utilisé pour les essais fonctionnels, les essais de tri des plaquettes et les essais analogiques des dispositifs semi-conducteurs. Ce système comporte un certain nombre de fonctionnalités complexes telles qu'une bibliothèque de défaut avancée, des diagnostics avancés, un langage de script embarqué et une unité de réglage automatique de la sonde. NEXTEST Magnum I SSV dispose d'une architecture ouverte qui permet d'utiliser presque tout type de circuit de test, ainsi que des architectures distribuées qui offrent une modularité optionnelle ainsi qu'une large gamme de configurations de test. Il comprend un certain nombre de capacités de test avancées telles que l'acquisition de données, les tests de protocole de données série et les tests de gravure. Afin de répondre aux dernières technologies de test, la machine propose également des mises à niveau matérielles et logicielles qui peuvent être appliquées pour ajouter de nouvelles fonctionnalités et fonctionnalités. TERADYNE Magnum I SSV offre d'excellentes capacités de diagnostic qui aident à identifier les défauts ou les défauts dans le processus de conception ou de fabrication qui peuvent ne pas être détectables par des tests de métrologie standard. Il est également livré avec une variété d'options matérielles de châssis, de plateau et d'installation qui permettent de tester une large gamme de dimensions et de configurations de circuits à haute précision et répétabilité. Enfin, l'outil est capable d'effectuer de multiples modes de test incluant contact et non contact, domaine temporel et domaine fréquentiel, caractérisation signal à bruit et mesures paramétriques. Magnum I SSV s'est avéré être une solution fiable et robuste pour un large éventail d'exigences d'essai. Sa grande flexibilité et sa modularité la rendent idéale pour diverses utilisations, y compris les essais sur le terrain, les analyses de laboratoire, les essais de production et la caractérisation des produits. En outre, ses capacités avancées de bibliothèque de défauts et de scripts lui permettent d'identifier et de catégoriser rapidement les défauts de conception, de fabrication et d'assemblage, en économisant du temps et de l'argent dans le cycle de développement du produit. L'excellente performance et la précision de l'actif, alliées à sa rentabilité et à sa flexibilité, en font une solution rentable et souhaitable pour un large éventail de besoins de test de dispositifs semi-conducteurs.
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