Occasion NEXTEST / TERADYNE Magnum II EV #293704238 à vendre en France
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ID: 293704238
Style Vintage: 2022
Tester
518337 LED Monitor, 22"
Chassis: (128) Cable interfaces
Site assembly (515017):
Test site controller
Generator
(128) PTU
(8) PMU Systems
(16) Voltage pins
(16) DUT Power supplies
(128) Digital channels
Memory options:
Error capture memory options: 510010, ECR, 144GB/4.608GB, M2
Row / Column memory options: 510016, RCM, 36MB, M2
Data buffer memory options: 510014, DBM, 72GB/4.608GB, M2
Vector memory options: 510019, LVM, 64MV/128MV, M2
2022 vintage.
NEXTEST/TERADYNE Magnum II EV est un équipement d'essai final très avancé et sophistiqué conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Ce système est utilisé pour tester et valider la fonctionnalité et les performances des circuits intégrés (CI) avant leur intégration dans des dispositifs électroniques. NEXTEST Magnum II EV est réputé pour sa précision, sa fiabilité et son efficacité pour s'assurer que les IC répondent aux spécifications et aux normes de qualité requises. Au cœur, TERADYNE Magnum II EV dispose d'une plate-forme matérielle robuste qui se compose de tête d'essai, d'instruments d'essai et de manipulateurs qui travaillent en tandem pour effectuer des essais complets des IC. L'unité est équipée d'instruments de test numériques et analogiques à haut débit qui permettent de tester une large gamme d'IC, des dispositifs logiques simples aux composants complexes Machine-on-Chip (SoC). L'outil prend également en charge diverses techniques de test telles que les tests de numérisation, les tests fonctionnels, les tests d'analyse des limites, et plus encore, afin d'assurer une couverture complète des tests. L'un des points forts de Magnum II EV est son évolutivité et sa flexibilité. L'actif peut être facilement configuré et personnalisé pour répondre à différents types d'IC, exigences d'essai et volumes de production. Cette évolutivité est obtenue grâce à des configurations modulaires de tête de test, qui permettent d'intégrer facilement des instruments et des capacités de test supplémentaires au besoin. Cette flexibilité permet aux fabricants de semi-conducteurs d'adapter le modèle à leurs besoins spécifiques de test et d'optimiser leurs processus de production. NEXTEST/TERADYNE Magnum II EV est conçu avec des capacités à haut débit pour répondre aux exigences des environnements modernes de fabrication de semi-conducteurs. L'équipement peut effectuer des essais parallèles de plusieurs IC simultanément, réduisant considérablement les temps de cycle d'essai et augmentant la productivité globale. Ce débit élevé est essentiel pour que les fabricants de semi-conducteurs respectent des calendriers de production serrés et fournissent rapidement des CI de haute qualité sur le marché. En plus de ses capacités matérielles, NEXTEST Magnum II EV est soutenu par un logiciel de pointe qui fournit des outils de développement et d'analyse de test puissants. Le système offre une interface utilisateur graphique conviviale (UI) qui permet aux ingénieurs de test de créer, déboguer et optimiser facilement des programmes de test pour une large gamme d'IC. Le logiciel dispose également d'outils d'analyse de données sophistiqués qui aident à identifier les défauts, à analyser les résultats des tests et à optimiser la couverture des tests. En outre, TERADYNE Magnum II EV est équipé de fonctionnalités avancées pour la synchronisation des tests, l'enregistrement des données et le reporting, assurant la traçabilité et la répétabilité des résultats des tests. L'unité offre également une couverture complète des défauts et des capacités de diagnostic pour repérer et dépanner les problèmes rapidement pendant le processus de test. Dans l'ensemble, Magnum II EV est une machine d'essai finale de pointe qui offre aux fabricants de semi-conducteurs une solution fiable, précise et efficace pour tester les CI. Avec ses capacités logicielles et matérielles avancées, ses performances élevées et sa flexibilité, NEXTEST/TERADYNE Magnum II EV est un outil indispensable pour garantir la qualité et la fiabilité des circuits intégrés dans l'industrie actuelle des semi-conducteurs à rythme rapide.
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