Occasion SHENZHEN AITEXUN ITC-ST212 #293659237 à vendre en France

SHENZHEN AITEXUN ITC-ST212 Final Test Equipment est un système avancé d'essai de semi-conducteurs qui peut être utilisé pour tester des circuits intégrés (IC). L'unité est basée sur la dernière plate-forme d'AITEXUN-L45 ITC, en signifiant qu'elle a la performance de matériel puissante et fiable, capable d'essai rapide, tri de données de haute précision et dossiers exacts dans le domaine du semi-conducteur très haut de gamme ICs. La machine supporte de multiples types d'outils de sonde couramment utilisés avec les IC, y compris la prise, la sonde à ressort, la broche à pogo et la sonde verticale. Il propose des essais simultanés ou autonomes, y compris des wafer, des boîtiers et des dispositifs de chargement de sonde. L'outil dispose d'une grande bibliothèque IC, qui permet aux utilisateurs de charger rapidement des programmes et de tester des IC de plusieurs fournisseurs et familles de produits. Le cœur de l'actif est basé sur la dernière version du logiciel d'emballage de modèle Trim Test, avec programmation, paramètres d'installation, paramètres de signal et d'autres paramètres qui permettent la traçabilité et la flexibilité dans les tests. Il peut être utilisé pour détecter des paramètres de ligne de signal tels que la capacité, la résistance et la tension. Par exemple, il peut détecter si le niveau de broche IC est normal, si la ligne de signal est ouverte, si la tension continue est dans la tolérance, et si les transitoires de signal sont dans la spécification requise. Ces caractéristiques augmentent la précision des résultats des tests. En outre, l'équipement dispose de fonctions intégrées de diagnostic de défaut, qui peuvent être utilisées pour identifier rapidement des anomalies telles que le mauvais contact des points de test et des broches cassées. Le système peut également détecter des écarts dans une variété de paramètres tels que l'amplitude et l'impédance du signal d'entrée/sortie. En outre, il prend en charge la programmation manuelle, automatique et FPGA, rendant la gestion des données et le processus de test plus efficace. Enfin, l'unité est livrée avec des dispositifs de sécurité clés, assurant une fiabilité et une stabilité élevées. Cela comprend des verrous indépendants pour circuit court/ouvert, un interrupteur de sécurité pour la puissance et le signal DUT, la surveillance de la température en temps réel et la surveillance du courant et des dommages. Ces caractéristiques en font la solution idéale pour les applications de test de semi-conducteurs haut de gamme.