Occasion TERADYNE 515-457-A1 #9315339 à vendre en France

TERADYNE 515-457-A1 est un équipement de test final de haute performance conçu pour les essais automatisés de production de dispositifs semi-conducteurs de haute complexité. Construite sur la plate-forme MX éprouvée TERADYNE, 515-457-A1 est conçue pour des performances intrinsèquement fiables et reproductibles, en particulier lorsqu'elle est utilisée pour tester des circuits intégrés (IC). Le système TERADYNE 515-457-A1 est basé sur une unité d'exploitation Windows 10 et est capable de tester les ICs de divers facteurs de forme, y compris les paquets à l'échelle des puces (CSP) et les paquetages quad (QDF). La machine est équipée de haute vitesse d'acquisition de données parallèles qui fournit des temps de cycle de moins de 0,75 ms pour CSP et 1,0 ms pour les appareils QFP. Ceci est conçu pour garantir que les exigences de production rapide peuvent être satisfaites et dépassées. 515-457-A1 est capable de tester en parallèle jusqu'à 24 dispositifs en parallèle, avec un décalage canal-canal de < 200µs à partir du point d'enregistrement. L'outil intègre également l'administration de limite complète de chaque paramètre de test permettant plusieurs réglages de production, si nécessaire. L'actif fournit également une analyse et un contrôle d'exploitation polyvalents pour l'examen des données de test, l'identification des défauts, le suivi des échecs et la gestion des recettes de test, avec une capacité complète de réseau et d'accès à distance. TERADYNE 515-457-A1 est également équipé d'un modèle breveté de dissipation thermique pour contrôler la température des appareils testés. En termes de facilité d'utilisation, 515-457-A1 prend en charge une interface graphique conviviale et une large gamme de fonctionnalités d'automatisation conçues pour réduire le temps et la complexité de l'opérateur. Cela comprend la fourniture de divers algorithmes de diagnostic, l'analyse statistique et une bibliothèque de formats de formes d'onde standard pour tester une grande variété de IC et de types de paquets. L'équipement TERADYNE 515-457-A1 fournit également un soutien étendu à la programmation flexible de production et de test. Le système prend en charge des outils de développement de tests graphiques conçus pour réduire le temps de programmation, ainsi que divers outils de diagnostic conçus pour fournir des données traçables et une isolation efficace des défauts. En résumé, 515-457-A1 est une unité de test finale avancée conçue pour répondre facilement aux exigences d'essai de production des dispositifs semi-conducteurs de grande complexité. Il offre des caractéristiques complètes et des performances à haute vitesse capables de répondre aux exigences de production de volume moyen à élevé. Il offre également des capacités de diagnostic complètes, des options de programmation flexibles et un support réseau pour l'accès à distance. La machine est une solution idéale pour les fabricants qui cherchent à obtenir des gains d'efficacité dans leurs processus de production de tests IC.