Occasion TERADYNE 875-957-01 #9135325 à vendre en France

TERADYNE 875-957-01
Fabricant
TERADYNE
Modèle
875-957-01
ID: 9135325
TMS Timer subsystem, LNS-Y-12 SUPPLY TWK 10 V.
TERADYNE 875-957-01 Final Test Equipment est un système de test automatisé qui fournit des tests fonctionnels complets et polyvalents, permettant aux fabricants de se concentrer sur leurs produits et d'améliorer leur rendement. Il s'agit d'une solution multi-sites hautement flexible conçue pour tester avec précision une large gamme de dispositifs semi-conducteurs, y compris les FPGA, les PLD, les ASIC, les mémoires, les LCD, la gestion de la puissance, les DRAM, les circuits intégrés de signal et les micro-contrôleurs. Le 875-957-01 est construit autour d'une architecture modulaire évolutive et extensible, lui donnant la souplesse dont il a besoin pour gérer à la fois des applications de test multi-périphériques de grande vitesse et de grande complexité. Il est facilement configuré avec des ressources de test telles que VCD, PXI, et les cartes dépendantes ATE, plus les cartes d'interface ATE et les composants logiciels pour exécuter des tests de production. L'unité fournit des fonctionnalités intégrées de configuration, de contrôle et de débogage, permettant des déplacements rapides entre les applications et les appareils testés. TERADYNE 875-957-01 est équipé d'algorithmes de test, de routines d'exécution de test et de diagnostic, ainsi que d'une génération de motifs puissants, et comprend un certain nombre de fonctions de contrôle de la force de mémoire et de l'intégrité des données, comme les tests de mémoire AC et DC. Il dispose également d'une bibliothèque embarquée de recettes de test préinstallées qui offrent une configuration, une vérification et un diagnostic faciles afin de faciliter le processus de test. La machine dispose également d'une grande grille de test parallèle intégrée, qui permet une variété de paramètres de configuration de test et prend en charge jusqu'à 6 sites de test. 875-957-01 est en mesure d'effectuer des essais massifs de gravure de niveau Wafer (WLBI), offrant une couverture de test étendue et une précision et une répétabilité supérieures. Il en résulte un rendement le plus élevé possible. Grâce à son architecture ouverte et à son interface graphique basée sur Windows, TERADYNE 875-957-01 peut être facilement intégré dans les environnements de production existants, fournissant des tests complets et fiables pour une variété de composants. 875-957-01 est programmé avec TERADYNE ICDi, un environnement de développement d'assistant basé sur Windows qui permet aux utilisateurs de créer, modifier et stocker facilement des programmes de test. De plus, son interface graphique conviviale permet à un utilisateur de surveiller facilement ses tests et de visualiser ses résultats en temps réel, afin de ne pas manquer de défauts de test. En fin de compte, TERADYNE 875-957-01 Final Test Tool est la solution idéale pour des tests de production de haute performance dans une large gamme d'applications de semi-conducteurs. Ses capacités de test complètes, son interface utilisateur intuitive et son architecture hautement configurable en font un outil inestimable pour tout environnement de production.
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