Occasion TERADYNE A565 #9006373 à vendre en France
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ID: 9006373
VLSY-System, CT69
Configuration:
ct69t is a 1 processor system
Processor 1: 440 MHz sparc (online)
PCI based system
Terabus is present
Board ID 949-824-00
TCI is present
PATH_II_TH 1
CONFIGID 949-688-01
#Slot Type Num XptA XptB Name
1 879-943-01 0 # 0 0 H50 TDR
2 879-936-00 0 # 0 0 H50 THS
3 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
4 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
5 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
6 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
7 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
8 879-935-51 0 # 0 0 H50 DTH
17 000-000-00 0 # 5 6 EMPTY
18 879-858-25 0 # 7 8 PLFS CC
19 879-858-35 0 # 9 10 PLFD CC
20 879-853-01 0 # 11 12 HF DIG CC
21 000-000-00 0 # 13 14 EMPTY
22 879-906-04 0 # 15 16 VHFAWG CC
23 879-792-00 0 # 17 18 TIME CC
24 879-906-04 0 # 19 20 VHFAWG CC
25 879-754-00 0 # 21 22 CDIG CC
11 879-656-00 0 # 0 0 RDC48
15 949-679-00 0 # 3 3 HUC 200
12 879-653-00 0 # 0 0 HAC
13 879-654-00 0 # 0 0 TACH
14 879-667-01 0 # 0 0 PATH II CAL
16 879-834-01 0 # 0 0 Analog Data Buffer AL
END
PATH_II_TH 2
CONFIGID 949-688-01
#Slot Type Num XptA XptB Name
1 879-943-01 0 # 0 0 H50 TDR
2 879-936-00 0 # 0 0 H50 THS
3 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
4 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
5 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
6 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
7 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
8 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
17 000-000-00 0 # 5 6 EMPTY
18 879-858-25 0 # 7 8 PLFS CC
19 879-858-35 0 # 9 10 PLFD CC
20 879-853-01 0 # 11 12 HF DIG CC
21 000-000-00 0 # 13 14 EMPTY
22 879-906-04 0 # 15 16 VHFAWG CC
23 879-792-00 0 # 17 18 TIME CC
24 879-906-04 0 # 19 20 VHFAWG CC
25 879-754-00 0 # 21 22 CDIG CC
11 879-656-00 0 # 0 0 RDC48
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12 879-653-00 0 # 0 0 HAC
13 879-654-00 0 # 0 0 TACH
14 879-667-01 0 # 0 0 PATH II CAL
16 879-834-01 0 # 0 0 Analog Data Buffer AL
END
#
# Up to 4 Precision AC Card Cages are allowed
#
PRECISION_AC 1
#Slot Type Num Name
1 879-765-04 0 # PLFDIG
2 879-764-01 0 # PLFSRC
3 879-779-00 0 # 1M SMEM
4 879-772-01 0 # HFDIG
5 879-742-20 0 # CMEM
6 949-608-00 0 # VHFAWG
7 949-608-00 0 # VHFAWG
8 879-781-00 0 # PACS CAGE INT
END
#
# Up to 8 Universal Backplane/Synch Power Subsystem
# cages are allowed
#
# For the Synch Power Subsystem:
# Slot Type Name Instr1 # Instr2 # Ammeter #
#
# Instr1 # - insrument connected to the first two matrix lines
# Instr2 # - insrument connected to the last two matrix lines
# Ammeter # - ammeter connection
# to AVOID errors, put NO 0 if no instrument is connected.
#
#
UB_SPS_CAGE 1
# Slot Type Num Name
1 879-802-02 0 # UB_SPS_802
2 517-301-00 0 # UB_APU
3 517-301-00 0 # UB_APU
4 517-301-00 0 # UB_APU
5 517-301-00 0 # UB_APU
6 517-301-00 0 # UB_APU
7 517-301-00 0 # UB_APU
8 517-301-00 0 # UB_APU
9 517-301-00 0 # UB_APU
10 517-301-00 0 # UB_APU
11 517-301-00 0 # UB_APU
12 517-301-00 0 # UB_APU
13 517-301-00 0 # UB_APU
14 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 1
15 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 2
16 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC DUT 1
17 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC DUT 2
20 879-690-00 0 # UB_ASY
22 517-300-00 0 # UB_TJ300
END
HSD50_CHAN_CAGE 1
#Slot Type Num Name
1 879-933-65 0 # HSD25 DMF
2 879-933-65 0 # HSD25 DMF
3 879-933-65 0 # HSD25 DMF
4 879-933-65 0 # HSD25 DMF
5 879-934-01 0 # H50 MFS
6 879-933-65 0 # HSD25 DMF
7 879-933-65 0 # HSD25 DMF
END
HSD50_SEQ_CAGE 1
#Slot Type Num Name
2 879-945-01 0 # H50 AFO
4 879-942-05 0 # H50 SFO
5 879-934-01 0 # H50 MFS
6 879-937-02 0 # H50 SCM
7 879-938-01 0 # H50 DMC
END
HSD50_DIG_SIG_CAGE 1
#Slot Type Num Name
1 879-953-00 0 # VBF
2 879-939-01 0 # DSI
3 879-745-00 0 # S_MEM
4 879-957-00 0 # DCB
5 879-742-40 0 # C_MEM
9 879-731-00 0 # CAGE INTR
END
#
# Trigger Switch Yard
#
# Note: The logical slot numbers below correspond to the physical slot
# numbers only for test systems which contain a TSY card
# cage. In test systems which contain an SCS/TSY card cage the
# mapping is:
#
# Logical TSY slot (below) Physical slot
# 1 -> 2
# 3 -> 1
#
TSY CAGE
#Slot Type Num Name
1 879-655-02 0 # TSY
2 000-000-00 0 # EMPTY
3 000-000-00 0 # EMPTY
4 000-000-00 0 # EMPTY
END
#
# Time Subsystem
#
TIME_SUBSYSTEM
# Board ID Name
879-793-00 # TMS Timer
879-794-01 # TMS Counter
879-795-01 # TMS Support
END
#
# DC Subsystem -
#
# SRC <NUM> [1 - 13]
# (sources 1-5 are MATRIX sources 1-5
# sources 6-13 are DUT sources 1-8)
# HCU <NUM> *[1 - 4]
# REF HCU <NUM> *[1 - 4]
# HVSRC <NUM> *[1 - 4]
# PWRSRC <NUM> [1 - 4]
# DATABITS <NUM> - <NUM> [1 - 192]
#
# ** These instruments share the same seven-slot cage -- only one
# instrument is allowed per slot.
#
DC_SUBSYSTEM
# UBVI 60 1 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 14)
# UBVI 60 2 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 15)
HCU 4
# UBVI 60 6 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 16)
# UBVI 60 7 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 17)
HCU 8
DATABITS 1 - 48
# UB_MATRIX
#
# Testhead 1
# XPTs UB Cage Slot Type
# 1-4 1 2 APU
# 5-8 1 3 APU
# 9-12 1 4 APU
# 13-16 1 5 APU
# 17-20 1 6 APU
# 21-24 1 7 APU
# 25-28 1 8 APU
# 29-32 1 9 APU
# 33-36 1 10 APU
# 37-40 1 11 APU
# 41-44 1 12 APU
# 45-48 1 13 APU
#
# Testhead 2
# XPTs UB Cage Slot Type
# 1-4 1 2 APU
# 5-8 1 3 APU
# 9-12 1 4 APU
# 13-16 1 5 APU
# 17-20 1 6 APU
# 21-24 1 7 APU
# 25-28 1 8 APU
# 29-32 1 9 APU
# 33-36 1 10 APU
# 37-40 1 11 APU
# 41-44 1 12 APU
# 45-48 1 13 APU
END.
TERADYNE A565 est un équipement de pointe de « test final » conçu pour des applications hautes performances dans l'industrie des semi-conducteurs. C'est un système complet et efficace pour tester à la fois petit et grand volume d'appareil. Il s'agit d'un testeur entièrement automatisé qui offre des capacités de sondes parallèles améliorées pour réduire le temps de cycle et améliorer la sondes en tangage fin. Sa configuration mécanique est spécialement conçue pour permettre une couverture de test optimale pour l'industrie des semi-conducteurs. L'unité est également conçue pour être efficace sur le plan opérationnel, coordonnée pour gérer les grandes architectures de test et réduire les coûts de test. A565 est une plate-forme hautement personnalisable et évolutive qui répond aux besoins de nombreux tests de production et de développement. Sa supériorité vient de sa conception modulaire. Son architecture modulaire avancée lui permet de combiner plusieurs composants de test en une seule trame. Elle est également attachable aux équipements associés tels que l'équipement d'essai automatisé (ATE), les alimentations électriques et d'autres instruments au besoin. Les principaux composants qui composent TERADYNE A565 sont la plate-forme de la machine de test spécialisée, la tête de test, les connecteurs de plate-forme, les plots de test, les sondes et la capture d'image. Tous ces composants se réunissent pour former l'outil complet. La plate-forme d'actifs de test contient le logiciel de contrôle de test et le logiciel de synchronisation de groupe. La tête de test contient le logiciel d'allocation et de contrôle des fonctions de mesure du testeur. Les connecteurs de plate-forme permettent une communication puissante entre la mémoire volatile et la zone de test désignée. Les plots d'essai sont les surfaces qui montent les sondes et offrent une exploration optimale dans l'environnement du modèle d'essai. Les sondes sont des unités spécialisées qui mesurent les caractéristiques électriques du dispositif soumis à l'essai (DUT). Enfin, la capture d'image capture et stocke des images du dispositif en cours de test. A565 est un équipement très fiable qui est conçu pour être capable de fonctionner à des vitesses et des capacités très élevées. Il est également capable de réagir rapidement aux opérations à grande vitesse et aux conditions dynamiques changeantes. Le système de test est conçu pour une haute précision et précision avec une unité de détection précise qui peut détecter jusqu'à 0,6 résolution. Il dispose également de la technologie avancée de sonde tactile insensible pour s'assurer qu'il fournit une précision de sondage supérieure pour les tests de haute fiabilité. Pour compléter sa capacité, TERADYNE A565 peut accueillir des fonctions de machine en option telles que le lavage automatique de la sonde, l'historique de panne automatique et les systèmes de vision avancés pour la sonde des appareils guidés par la vision. Il fournit également des capacités de génération de programmes de tests automatiques (ATPG) et plusieurs options de diagnostic. Avec toutes ces fonctionnalités, A565 se révèle être un leader dans les solutions de test de semi-conducteurs efficaces et rentables.
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