Occasion TERADYNE Catalyst #145333 à vendre en France
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ID: 145333
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Configuration:
2 processor system
Processor 1: 1280 MHz sparcv9 (online)
Processor 2: 1280 MHz sparcv9 (online)
PCI based system
Terabus is present
TCI is present
CATALYST_TH 1
BACKPLANE A
#Slot Type Num XptA XptB Name
2 879-858-35 0 # 23 24 PLFD CC
3 879-858-25 0 # 21 22 PLFS CC
4 000-000-00 0 # 19 20 EMPTY
5 879-792-01 0 # 17 18 TIME CC
6 879-857-01 0 # 15 16 PMM CC-01
7 000-000-00 0 # 13 14 EMPTY
8 949-658-00 0 # 11 12 LFAC DUAL CC
9 949-658-00 0 # 9 10 LFAC DUAL CC
10 949-681-50 0 # 7 8 VHFAWG400 DIFF CC
11 949-672-50 0 # 5 6 VHFDIG CC
14 803-594-00 0 # 25 26 UHFSRC CC
15 803-596-05 0 # 27 28 UWPORT
16 803-595-00 0 # 29 30 UWMM
17 949-643-00 0 # 31 32 TJD CC
18 803-596-05 0 # 33 34 UWPORT
19 803-594-00 0 # 35 36 UHFSRC CC
20 803-594-00 0 # 37 38 UHFSRC CC
21 000-000-00 0 # 39 40 EMPTY
22 879-858-25 0 # 41 42 PLFS CC
23 879-858-35 0 # 43 44 PLFD CC
1 949-669-00 0 # 3 0 HAS (Left HAS LA669-00)
13 949-668-00 0 # 0 0 CATALYST HAC
12 949-667-00 0 # 0 0 DIF
24 949-669-01 0 # 4 0 HAS (Right HAS LA669-01)
END
RF_PIPES 1
pipe-name slot schan description
Z8A 15 1 # UWPORT (OSP)
Z7A 15 2 # UWPORT (OSP)
Z6A 15 3 # UWPORT (OSP)
Z5A 15 4 # UWPORT (OSP)
Z4A 18 1 # UWPORT (OSP)
Z3A 18 2 # UWPORT (OSP)
Z2A 18 3 # UWPORT (OSP)
Z1A 18 4 # UWPORT (OSP)
END
RF_CONNECTIONS 1
RF pipe connections between channel cards
slot schan slot schan
14 1 to 15 5
16 3 to 15 7
19 1 to 18 5
20 1 to 18 6
16 1 to 18 7
END
Up to 4 Precision AC Card Cages are allowed
PRECISION_AC 1
Slot Type Num Name
1 949-718-00 0 # PLFDIG TCI
2 879-764-01 0 # PLFSRC
3 879-779-00 0 # 1M SMEM
4 949-660-01 0 # LFACDIG
5 949-660-00 0 # LFACDIG
6 949-659-00 0 # LFACSRC
7 949-659-00 0 # LFACSRC
8 949-671-01 0 # PACS CAGE INT
END
PRECISION_AC 2
Slot Type Num Name
1 949-718-00 0 # PLFDIG TCI
2 879-764-01 0 # PLFSRC
3 879-779-00 0 # 1M SMEM
4 949-827-00 0 # VHFAWG
5 949-664-00 0 # VHFDIG MF
6 949-320-00 0 # UWMS
7 949-608-00 0 # VHFAWG
8 949-671-01 0 # PACS CAGE INT
END
Up to 8 Universal Backplane/Synch Power Subsystem cages are allowed
For the Synch Power Subsystem:
Slot Type Name Instr1 # Instr2 # Ammeter #
Instr1 # - insrument connected to the first two matrix lines
Instr2 # - insrument connected to the last two matrix lines
Ammeter # - ammeter connection
to AVOID errors, put NO 0 if no instrument is connected.
UB_SPS_CAGE 1
Slot Type Num Name
1 879-802-02 0 # UB_SPS_802
2 517-301-00 0 # UB_APU
3 517-301-00 0 # UB_APU
4 517-301-00 0 # UB_APU
5 517-301-00 0 # UB_APU
6 517-301-00 0 # UB_APU
7 517-301-00 0 # UB_APU
8 517-301-00 0 # UB_APU
9 517-301-00 0 # UB_APU
10 517-301-00 0 # UB_APU
11 517-301-00 0 # UB_APU
12 517-301-00 0 # UB_APU
13 517-301-00 0 # UB_APU
14 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 1
15 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC DUT 1
16 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 2
17 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 3
18 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 5
19 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC DUT 5
21 879-690-00 0 # UB_ASY
22 517-300-01 0 # UB_TJ300
END
HSD100_CHAN_CAGE 1
Slot Type Num Fld1 Fld2 Name
1 949-921-01 0 # HSD CDM 400
2 949-921-01 0 # HSD CDM 400
3 949-921-01 0 # HSD CDM 400
4 949-921-01 0 # HSD CDM 400
5 949-820-10 0 # HSD CSB
6 949-921-01 0 # HSD CDM 400
7 949-921-01 0 # HSD CDM 400
8 949-921-01 0 # HSD CDM 400
9 949-921-01 0 # HSD CDM 400
END
HSD100_CHAN_CAGE 2
Slot Type Num Fld1 Fld2 Name
5 949-820-00 0 # HSD CSB
END
CATALYST_TH 1
BACKPLANE B
Slot Type Num Name
29 949-626-10 0 # HSD THS
43 949-625-00 0 # HSD DTH
44 949-625-00 0 # HSD DTH
45 949-625-00 0 # HSD DTH
46 949-625-00 0 # HSD DTH
47 949-626-20 0 # HSD THS/HCLK
48 949-625-00 0 # HSD DTH
49 949-625-00 0 # HSD DTH
50 949-625-00 0 # HSD DTH
51 949-625-00 0 # HSD DTH
61 949-625-00 0 # HSD DTH
62 949-625-00 0 # HSD DTH
63 949-625-00 0 # HSD DTH
64 949-625-00 0 # HSD DTH
65 949-626-00 0 # HSD THS
66 949-625-00 0 # HSD DTH
67 949-625-00 0 # HSD DTH
68 949-625-00 0 # HSD DTH
69 949-625-00 0 # HSD DTH
74 949-626-10 0 # HSD THS
END
Trigger Switch Yard
Note: The logical slot numbers below correspond to the physical slot numbers only for test systems which contain a TSY card cage. In test systems which contain an SCS/TSY card cage the mapping is:
Logical TSY slot (below) Physical slot
1 -> 2
3 -> 1
TSY CAGE
Slot Type Num Name
1 879-655-02 0 # TSY
2 000-000-00 0 # EMPTY
3 000-000-00 0 # EMPTY
4 000-000-00 0 # EMPTY
END
Time Subsystem
TIME_SUBSYSTEM
# Board ID Name
879-793-00 # TMS Timer
879-794-01 # TMS Counter
879-795-01 # TMS Support
END
# The UWMS option resides in the PACS cage and is composed of two
# plug-in modules that may reside in one of three locations A, B or C.
# A zero in the type field indicates no plug-in module.
# PACS_UW <n> - indicates PACS cage number of these UWMS options
# Slot - indicates slot number and module position for this UWMS option
# Type - board identification number
# AWG Num - AWG instrument number connected to this UWMS option
# UHFSRC Num - UHF instrument number that has this UWMS option
# MODSRC Num - First or second MODSRC connected to above UHFSRC
#
PACS_UW 2
# AWG UHFSRC MODSRC
#Slot Type Rev Date Num Num Num Name
6 949-320-00 A 9943-0 2 1 1 # UWMS
6A 949-330-00 A 9944-0 # UWMS UP CONV
6B 000-000-00 0 0000-0
6C 949-333-00 C 9948-0 # UWMS MUX
END
#
#
# The UWPORT option modules are composed of plug-in modules.
# The names list in the first column indicate the presence of
# the option modules for the uwport.
#
UWPORT_OPTIONS_HEAD 1
#
# Name Slot Type Rev Num Date
PORT 15 803-596-05 A 1 # 0122-0
NOISE 15 733-104-00 A 1 # 9923-0
PORT 18 803-596-05 A 2 # 0122-0
NOISE 18 733-104-00 A 2 # 9923-0
END
#
# DC Subsystem -
#
# SRC <NUM> [1 - 13]
# (sources 1-5 are MATRIX sources 1-5
# sources 6-13 are DUT sources 1-8)
# HCU <NUM> *[1 - 4]
# REF HCU <NUM> *[1 - 4]
# HVSRC <NUM> *[1 - 4]
# PWRSRC <NUM> [1 - 4]
# DATABITS <NUM> - <NUM> [1 - 192]
#
# ** These instruments share the same seven-slot cage -- only one
# instrument is allowed per slot.
#
DC_SUBSYSTEM
# UBVI 60 1 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 14)
# UBVI 60 2 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 16)
# UBVI 60 3 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 17)
HCU 4
# UBVI 60 5 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 18)
# UBVI 60 6 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 15)
HCU 7
HCU 8
HCU 9
# UBVI 60 10 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 19)
DATABITS 1 - 48
# UB_MATRIX
#
# Testhead 1
# XPTs UB Cage Slot Type
# 1-4 1 2 APU
# 5-8 1 3 APU
# 9-12 1 4 APU
# 13-16 1 5 APU
# 17-20 1 6 APU
# 21-24 1 7 APU
# 25-28 1 8 APU
# 29-32 1 9 APU
# 33-36 1 10 APU
# 37-40 1 11 APU
# 41-44 1 12 APU
# 45-48 1 13 APU
END.
TERADYNE Catalyst est un équipement d'essai final puissant et avancé conçu pour minimiser le coût et la complexité des solutions d'essai de semi-conducteurs. Il est conçu pour optimiser le temps d'essai, réduire les exigences d'espace plancher et améliorer la qualité de vie de l'appareil. Le système d'essai par catalyseur utilise les technologies les plus récentes pour automatiser le processus d'essai et réduire les coûts en utilisant l'intelligence et l'automatisation en unité qui ne reposent pas sur des programmes d'essai complexes. Il utilise des répliques de tests à grande vitesse, une programmation parallèle, des diagnostics intégrés et de l'intelligence avec des vitesses de test de pointe de l'industrie jusqu'à 800 MHz. La machine d'essai TERADYNE Catalyst offre une large gamme de solutions, y compris des capacités de balayage, un accès à l'opérateur élevé et un emplacement de défaut avancé pour tester des appareils de plusieurs fabricants. Il dispose de la configuration de test One-touch et du support Flexforce pour une programmation de test plus rapide. Il comprend également un contrôleur de rendement de qualité pour la surveillance des résultats en temps réel pour des supports d'E/S sensoriels QA exhaustifs plus approfondis qui permet à Catalyst de détecter les appareils défaillants et de les empêcher d'expédier aux clients. L'outil dispose également de fonctions de débogage avancées pour des expériences plus rapides et plus efficaces. Ces caractéristiques comprennent des niveaux élevés de traçabilité et une analyse d'essai entièrement automatisée. Cela inclut la solution matérielle au niveau des actifs et les capacités de génération et d'exécution de tests automatisés basés sur des logiciels. Le modèle prend également en charge la couverture de défaut statique, dynamique et logique, le test mémoire et la surveillance en temps réel. L'équipement de test final TERADYNE Catalyst est conçu pour répondre aux exigences élevées et aux solutions d'automatisation des entreprises de semi-conducteurs d'aujourd'hui. Il offre un système de test puissant qui simplifie le processus de test. Il offre des capacités avancées d'automatisation, de diagnostic et d'intelligence pour identifier rapidement les défaillances, réduire le temps de test, réduire les coûts et améliorer la qualité des produits.
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