Occasion TERADYNE / EAGLE LSI 5 XP / DE #9242088 à vendre en France

TERADYNE/EAGLE LSI 5 XP/DE est un équipement de test final à haut débit conçu pour fournir une fiabilité au niveau de la production pour tester des circuits intégrés à logique dure et douce. Ce système est conçu pour fournir une plate-forme efficace et fiable pour tester des IC complexes et divers autres appareils, y compris les microprocesseurs, les processeurs vidéo/graphiques, les ASIC, la mémoire et bien d'autres. L'unité offre une variété de ressources de test qui comprennent les cellules de test cible (TTC), les testeurs, les contrôleurs de machines dynamiques (DSC), l'instrumentation de test (TI) et les algorithmes de test. Les TTC sont spécifiquement conçus pour soutenir des modèles de test IC complexes de manière rapide et efficace. Les TTC permettent à l'outil de scanner, comparer, calculer et contrôler les signaux de test en temps réel. Il comprend également un processeur avancé qui permet à l'actif de contrôler jusqu'à 32 appareils simultanément. Les DSC optimisent le traitement du signal et le coût des exigences complexes de test. Il module les formes d'ondes du signal de test et les délivre à l'interface de test de manière synchronisée. Le TI est une ressource nécessaire qui permet au modèle de recueillir les données acquises et de prendre des décisions en fonction des résultats. Cette trousse offre un outil efficace pour évaluer les défauts d'essai et les caractéristiques du produit de manière précise et cohérente. Les algorithmes de test fournissent un cadre dans lequel l'équipement peut créer des programmes de test fiables pour tester des IC complexes. Ces algorithmes génèrent des listes d'attributs, structurent les IC selon la conception, sélectionnent la suite de tests optimale pour tester partiellement les nœuds IC et génèrent des mesures de couverture de test. EAGLE LSI 5 XP/DE fournit les ressources et les outils nécessaires pour un test final efficace et une couverture des défaillances. Ce système est une plate-forme idéale pour tester des IC complexes de manière rapide, précise, rentable et fiable.