Occasion TERADYNE iFlex #9215606 à vendre en France

TERADYNE iFlex
Fabricant
TERADYNE
Modèle
iFlex
ID: 9215606
Tester RF Option Test head: Slot / Board name / Part no #2 / MWBoard-4 / 805-890-50 #3 / MWBoardAUX / 805-891-50 #4 / VHFAC / 805-245-50 #5 / DC-30 / 805-002-60 #6 / HSD-200 / 805-251-50 #7 / Support board / 805-003-50 #7.1 / DSP #0 / 810-503-00 #7.2 / DSP #1 / 810-503-00 #8 / HSD-200 / 805-251-50 #11 / VHFAC / 805-245-50 #20 / Support board / 805-003-11 #20.1 / DSP #1 / 810-503-00 #21 / HSD-200 / 805-251-50 Card cage: Slot / Board name / Part no #0 / MW Support board / 805-202-01 #0.1 / EFS6000 / 445 027 00 #0.2 / EFS6000 / 445-027-00 #0.3 / EFS6000 / 445 027 00 #0.4 / EFS6000 / 445-027-00 #1 / MWMSIFConv / 805-627-70 #2 / MWMS-Finalconv / 805-628-70.
TERADYNE iFlex est une solution complète de test final pour une large gamme de fabricants d'emballages et de dispositifs semi-conducteurs. L'équipement est modulaire et configurable, avec la capacité d'accueillir jusqu'à six planches de test parallèles et jusqu'à 32 broches totales. Il utilise sa technologie TestCell de pointe pour le haut débit et la répétabilité, combinée à ses capacités traditionnelles de test en circuit (TIC) pour soutenir des tests paramétriques, des tests de dispositifs de comptage à broche haute et des stratégies de test de planche flexible. TERADYNE I-FLEX est conçu pour des temps de test rapides et des niveaux élevés de production et de rendement. Le système peut effectuer la programmation automatique de l'appareil, le test à plusieurs noeuds, et la cartographie dynamique de wafer ou de test de puce. Ses temps de cycle courts peuvent permettre des tests parallèles, tandis que des capacités de diagnostic sophistiquées aident à l'analyse des défaillances des composants. De plus, les paliers à température contrôlée permettent de contrôler les températures des points d'essai pour garantir des résultats et une répétabilité plus fiables. Pour accélérer et améliorer la qualité des tests, la fonction de test analogique d'iFlex permet la caractérisation des transistors périphériques. En outre, sa capacité de mesure rapide des oscilloscopes peut exécuter une gamme de tests paramétriques tels que la fréquence, la tension, le courant, la puissance, et plus encore. Il prend également en charge les mesures de pile sur les appareils 3D pour le contrôle de la qualité et l'assurance de la fiabilité. L'unité est livrée avec une interface graphique intuitive conviviale qui simplifie les opérations et améliore le processus de débogage. Il comprend une base de données de paramètres de test, des modèles de circuit et des instructions de test, ainsi qu'une bibliothèque de scripts de test pour une configuration de test plus rapide. I-FLEX est équipé d'outils de test avancés qui comprennent une alimentation programmable embarquée pour une flexibilité de test étendue, un four intégré pour les tests de gravure, et une bibliothèque d'appareils sélectionnables par l'opérateur pour les réglages clés en main de la sonde. La machine dispose également d'un outil de commande de mouvement ascendant/descendant pour la manipulation d'appareils délicats, et d'une interface fibre optique prête à l'emploi pour embrasser les dernières technologies. Le modèle est équipé d'une gamme d'outils logiciels haut de gamme pour une couverture paramétrique et fonctionnelle complète de test, y compris un outil intégré de développement de test basé sur modèle pour le développement de test personnalisé. Il supporte également les ressources virtuelles nécessaires pour supporter des tests optiques et RF avancés. L'équipement comprend également un diagnostic intense Suite™ qui aide à repérer rapidement les points de défaillance de l'appareil, et une suite logicielle d'assurance de la qualité (AQ) pour la collecte et la présentation des données au niveau de la matrice.
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