Occasion TERADYNE J750 E #9256207 à vendre en France

TERADYNE J750 E Final Test Equipment est la dernière série de solutions de test de wafer et de composants à haut débit et à faible coût de TERADYNE. Il s'agit d'un système d'essai à circuit intégré (IC) spécialement conçu pour les essais de production à haut volume et haute performance et les essais de choc de produits semi-conducteurs. Ce testeur intègre un certain nombre de technologies avancées, telles que le diagnostic à l'unité avancée, la planification dynamique des tests et le contrôle à tension mixte pour fournir aux fabricants de puces, aux concepteurs de machines et aux ingénieurs de test une solution efficace pour tester un large éventail de types et de configurations d'IC. TERADYNE J750E est capable de tester des cartes de circuits, des IC et d'autres composants jusqu'à 800 MHz, jusqu'à 10 térabits par seconde et avec un maximum de 1 million d'instructions par seconde. Il s'agit d'un outil intégré, comprenant l'ordinateur central, la tête de test, l'EPM et divers outils de support. La tête de test est conçue pour fournir des capacités de test flexibles et puissantes, ce qui rend cet actif de test bien adapté aux environnements de production. Son E/S numérique embarqué permet de tester des technologies mixtes telles que la RFID, la LTE et d'autres interfaces à grande vitesse. Il supporte également la commande en tension mixte, permettant des essais en tension mixte en un seul essai, permettant une plus grande efficacité. J 750 E dispose d'une interface graphique conviviale, permettant aux utilisateurs de personnaliser les routines de test et les affichages. Le modèle dispose d'un serveur Linux intégré, qui fournit un environnement sécurisé pour les configurations d'équipement, l'acquisition de données et le contrôle à distance. Il utilise également des algorithmes intelligents et intégrés pour mieux prédire et optimiser les résultats des tests, réduire le risque de fausses erreurs et réduire les temps d'arrêt du système. J750 E Final Test Unit est conçu pour répondre aux besoins des lignes de production de semi-conducteurs à haut volume. Il s'agit d'une solution de test intégrée, rapide et peu coûteuse, offrant une solution complète et intuitive pour les essais de production et de crash des produits semi-conducteurs. Il élimine le besoin de systèmes de test multiples et réduit le temps consacré à la configuration et à l'exécution des tests, fournissant une méthode de test beaucoup plus efficace.