Occasion TERADYNE J750 E #9256208 à vendre en France

TERADYNE J750 E
Fabricant
TERADYNE
Modèle
J750 E
ID: 9256208
Style Vintage: 2008
Tester 1024 Pins (8) HSD100 (4) DPS XW8400 Workstation 2008 vintage.
TERADYNE J750 E Final Test Equipment est l'une des plateformes de test les plus avancées, fiables et conviviales sur le marché aujourd'hui. TERADYNE J750E est un système de test de production ultra haute densité conçu pour le test efficace et rentable des dispositifs semi-conducteurs les plus avancés d'aujourd'hui. Il fournit une solution de test ad hoc et une sonde sur plaquette rentable, en raison de sa capacité de prober intégrée et de ses fonctionnalités matérielles avancées. L "unité d" essai finale J 750 E possède l "une des capacités d" essai les plus élevées de l "industrie pour des essais de production à haut volume. Il peut délivrer au moins 3000 canaux de test (canaux supplémentaires avec capacité chipset) à un débit de 30 MHz par canal, avec des flux de données 40Gbps et un temps de réponse de 1 μ s. La machine utilise les performances disponibles plus efficacement grâce à l'utilisation de plate-forme hautement parallélisée avec 32 nœuds de données, chacun avec son dépôt RAM local, offrant un parallélisme massif, une évolutivité des fonctionnalités et des options de test haute performance. En outre, J750E outil de test comprend des outils logiciels parallèles intégrés pour le débogage et le diagnostic des appareils efficaces. Ceux-ci comprennent Visual DFT, pour un débogage très visuel orienté utilisateur et en temps réel, sur plaquette de sondage interactif. WLC Design Automation Software est également inclus pour générer des programmes de test de haut niveau à partir d'un environnement graphique et utiliser la plate-forme IQ Fusion pour la création automatisée de WLC (Large Language Compilers). La plate-forme intègre également le vérificateur quantique (QV) pour un cycle de temps de test extrêmement rapide et fiable, en utilisant la technologie intégrée Vector Utilization (EVU). Le QV garantit un délai rapide pour commercialiser de nouveaux produits, tout en fournissant une solution de test entièrement automatisée et mains libres. En outre, l'actif est soutenu par la gestion d'actifs, qui suit et surveille de manière fiable les plaquettes fabriquées et les contrôles au besoin. Cela permet de s'assurer qu'aucun test manquant ou incorrect ne se produit. Enfin, le modèle de test final J750 E est plus rentable à développer, grâce à sa conception d'architecture ouverte et une carte Multi Test « commutable » haute densité qui offre une flexibilité pour différents types de paquets et la configuration de port. L'équipement de test final TERADYNE J 750 E est une solution puissante et fiable pour tester les dispositifs semi-conducteurs les plus avancés disponibles aujourd'hui. Avec ses fonctionnalités intégrées telles que Visual DFT, WLC Design Automation Software, IQ Fusion, Quantum Verifier, ainsi que la gestion d'actifs, ce système de test simplifié garantit un maximum d'efficacité et de rentabilité.
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