Occasion TERADYNE J750 EX-HD #293586399 à vendre en France

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Fabricant
TERADYNE
Modèle
J750 EX-HD
ID: 293586399
Tester Computer: IG-XL HSD800: 1024 Channels (48) HDDPS (48) HDVIS (32) HDCTO (SRC) (8) HDCTO (4) DSMTO 8-Slots Module (2) J750 HDVIS Kits Air flow DPS control board High density CTO CTO Small slot filler board Computer workstation LCD Monitor Computer anthro cart KLA TENCOR Daemon tester HPC Probe tower HSD800: 1792 Channels (192) HDDPS (128) HDCTO (2) HDDPS: 24 Channels HSD800: (8) Digital instrument: 128 Channels (16) 64-Pins: 150 MHz (16) 64 Pins: 16 Mb LVM DSSC DSMTO Module.
TERADYNE J750 EX-HD est un équipement de test final conçu pour la production de dispositifs semi-conducteurs avancés. Ce système fonctionne avec une combinaison de solutions d'essai déterministes et de capacités d'essai non déterministes pour garantir la plus haute qualité et les résultats les plus fiables pour les puces les plus avancées d'aujourd'hui. Il dispose d'une architecture multi-filetée pour assurer un débit maximum et la flexibilité pour les clients. L'unité dispose d'une configuration modulaire, permettant aux clients d'adapter la machine aux besoins de leur application particulière. Il est équipé d'un processeur 1.6GHz Pentium 4 et jusqu'à 6 Go de mémoire d'outil DDR2, lui donnant la puissance de gérer de grands vecteurs de test et plusieurs ensembles de vecteurs simultanément. Pour garantir une précision et une répétabilité de test maximales, TERADYNE J750EX-HD dispose également d'un atout ultra-rapide d'acquisition et de contrôle de données PCI Express. Le modèle offre également un certain nombre de capacités de test et d'analyse avancées, telles que des outils de planification et de programmation de test avancés, l'analyse de données en temps réel et la capture de formes d'onde, et des fonctions externes de stimulation, de déclenchement et de sortie. En outre, l'équipement peut être augmenté avec des bibliothèques de test tierces, y compris celles de la bibliothèque de test standard IEEE et diverses offres dites « Golden Library ». Le système offre également un support intégré pour de nombreux ensembles de tests et principes populaires, tels que les tests BIST, DC et AC. En termes de vitesse d'essai, J 750 EX HD offre jusqu'à quatre fois plus de débit soutenu et dix fois plus de débit de pointe par rapport aux systèmes précédents de la même série. De plus, l'unité dispose d'une meilleure intégrité du signal, grâce à un routage optimisé du signal et à des solutions améliorées d'exploitation et de câblage. En outre, la machine dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive conçue pour la configuration facile et la personnalisation des tests. Cette interface utilisateur est basée sur le navigateur, permettant un accès à distance pour la surveillance, le débogage et le contrôle des programmes de test. Chaque instance de l'interface utilisateur dispose également de sa propre clé de chiffrement et protocole de sécurité de connexion, ce qui la rend sûre et sécurisée pour fonctionner à partir de n'importe quel endroit. Enfin, l'outil est bien adapté à un large éventail d'applications difficiles, telles que les tests DSP (Digital Signal Processing) dynamiques, les tests de mémoire haute vitesse et les tests d'isolation de défauts multi-sites. Ses composants de haute fiabilité et ses capacités avancées de balayage de tension et de puissance le rendent bien adapté aux applications de test haute tension et RF les plus difficiles. Tous ces traits rendent l'actif D'essai de Finale de J750 EX-HD un outil incroyablement puissant, flexible et fiable pour les applications d'essai de semi-conducteur les plus avancées.
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