Occasion TERADYNE J750 EX-HD #293824669 à vendre en France

TERADYNE J750 EX-HD
Fabricant
TERADYNE
Modèle
J750 EX-HD
ID: 293824669
Tester.
TERADYNE J750 EX-HD est un équipement de test entièrement automatisé conçu pour des applications de test finales à haute performance. Ce système est capable d'accueillir une variété de programmes de test de complexité moyenne et élevée avec des caractéristiques et des performances qui sont idéales pour les essais de semi-conducteurs haut de gamme et l'analyse du vieillissement/défaillance. Cette unité fournit des capacités avancées pour répondre aux besoins actuels en matière de tests de production à haut volume ainsi que l'analyse exhaustive des données requises pour l'analyse des défaillances et des défauts des appareils de haute technologie. Au cœur, TERADYNE J750 EX-HS est une plate-forme de test avancée qui est capable d'exécuter une variété de protocoles de test incluant ATE, analyse fonctionnelle et d'échec. Les composants matériels de cette machine comprennent un ordinateur central Open Fire Series avec quatre châssis Open Standard de l'industrie pour une large expansion des outils. Cet atout comprend 4 canaux analogiques de haute précision de 10 bits, 80 canaux logiques et une interface de bus numérique de 16 bits. Supplémentairement, un processeur de VME IO, un Modèle d'Alignement Global, une Interface de Réseau et quatre cartes de PMI2 IO sont inclus dans l'équipement pour la performance améliorée avec les modules enfichables très haut de gamme optionnels. Un large choix de bibliothèques, d'utilitaires et d'outils logiciels sont disponibles pour soutenir pleinement le système TERADYNE J750EX-HD. Ceux-ci comprennent des logiciels pour l'assemblage, l'intégration et le test de nombreux types de technologie différents, y compris C, C++, VHDL, Unité C, Verilog, et une large gamme de scripts de test. Les programmes d'écoulement d'essai sont aussi disponibles pour les scénarios d'essai avancés tels que le courant alternatif et la caractérisation de courant continu, le signal Mélangé l'Épreuve de Production et d'Épreuve Autonome. J 750 EX HD inclut aussi la Manipulation d'Exception Avancée, DFX intégré, la Manipulation d'Exception Secondaire, DUT Intelligent Fixturing et la Génération de Faute Dynamique. Les caractéristiques de TERADYNE J 750 EX HD en font un excellent choix pour les tests haut de gamme de semi-conducteurs et l'analyse des défaillances. Cette machine est conçue pour maximiser la productivité, la précision et l'efficacité lors des essais des appareils les plus difficiles. Il économise du temps et de l'argent en éliminant les processus redondants ou inutiles et fournit des capacités avancées comme la haute précision et la génération dynamique de défauts pour exécuter des scénarios de test complexes et personnalisés. Avec son matériel puissant et un large choix d'outils logiciels, J750EX-HD fournit une solution efficace et fiable pour les tests haut de gamme et l'analyse des échecs.
Il n'y a pas encore de critiques