Occasion TERADYNE J750 EX #9311622 à vendre en France

Fabricant
TERADYNE
Modèle
J750 EX
ID: 9311622
Tester Test head size: 1024 Channels Channel board: 512 Channels Slot / Subslot / Type / Revision -1 / Sli / 239-624-00 / 1251-A 0 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 0 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 1 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 1 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 2 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 2 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 3 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 3 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 4 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 4 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 5 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 5 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 6 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 6 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 7 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 7 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 18 / CUB / 239-020-09 / 1423-H 22 / DPS / 239-016-06 / 1414-F 23 / DPS / 239-016-06 / 1414-F.
TERADYNE J750 EX est un équipement d'essai automatique de haute performance conçu pour le « test final » d'appareils électroniques avancés. Il est basé sur la plate-forme TERADYNE éprouvée par l'industrie, flexible J750. Le système offre une combinaison de vitesse, de précision, de polyvalence et de fiabilité dans une empreinte compacte. Conçu pour répondre aux exigences d'un large éventail de fabricants de semi-conducteurs et d'autres appareils électroniques, TERADYNE J750EX est capable de tester et de caractériser une grande variété d'appareils tels que DRAM, mémoire Flash, ROM, MCU, CPLD, discrets et micro-contrôleurs. Utilisant une architecture brevetée à base de laser, l'unité utilise une configuration évolutive de machine multiport et plusieurs bus de données. J 750 EX offre des capacités à grande vitesse, avec le débit de plaquettes sèches le plus rapide dans l'industrie. Sa conception avancée de module d'essai en 2 pièces permet des densités de broches de haute densité jusqu'à 400 broches par pouce de part et d'autre de l'appareil simultanément et sa conception intégrée haute tension a la flexibilité nécessaire pour supporter plusieurs niveaux de tension simultanément. L'outil comprend une large gamme de modules intégrés tels que les réseaux de tension modulés MicroScope, les modules de test de fréquence hyperfréquence, les sondes flexibles, les systèmes de modules de test conçus et une variété d'adaptateurs de test. Il offre également une vaste gamme d'options de programmation, y compris la programmation à distance via son logiciel avancé Network CommandCenter (NCC), le support de base de données ProCOM, et une variété de langages de programmation normalisés. J750EX comprend des diagnostics puissants pour l'analyse et la réparation automatisées des problèmes de causes profondes. Sa suite logicielle SCRIBE exclusive offre un ensemble complet de diagnostics diagnostiques, ainsi que la détection et l'analyse d'erreurs graphiques en temps réel. Un ensemble intégré d'analyses de données permet l'analyse statistique et la communication des données de performance, afin de permettre l'amélioration des processus. J750 EX est livré avec une architecture d'actifs flexible et configurable, lui permettant de s'adapter facilement aux besoins des clients, ce qui en fait une solution idéale pour les exigences de test exigeantes d'aujourd'hui. L'ajout de ses capacités d'outillage automatisé signifie qu'il s'agit d'une solution idéale pour les essais de matériel automobile et médical multi-axes, multi-sondes. Le modèle offre une combinaison inégalée de caractéristiques, ce qui en fait le leader du marché des systèmes de test. La combinaison de technologies de pointe, de performance des équipements, de diagnostic, de programmation et d'architectures personnalisables font de TERADYNE J 750 EX le système idéal pour les fabricants d'électronique.
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