Occasion TERADYNE MicroFlex #9363434 à vendre en France

TERADYNE MicroFlex est un équipement de test final conçu pour une variété d'appareils électroniques, de la mémoire et des microcontrôleurs aux ASIC à grande vitesse, ainsi que des IC numériques, analogiques et à signaux mixtes. Il offre une couverture de test évolutive sur une seule plate-forme, et convient à la fois pour la production et l'ingénierie. Le système MicroFlex est livré avec une gamme complète de matériel, de logiciels et de services pour faciliter le processus de test. Une puissante unité d'exploitation facilite le développement et la gestion efficaces des tests grâce à Advanced Test View (ATV), une interface utilisateur graphique qui simplifie l'intégration et l'automatisation des programmes de test. La bibliothèque de logiciels de test disponibles comprend des générateurs de programmes de test, des outils de diagnostic et des logiciels de simulation conçus pour fonctionner de façon transparente avec le matériel de la machine. Pour la couverture des essais des IC, l'outil fournit une gamme de capacités de test à haute vitesse propres aux applications. Il peut être utilisé pour une variété d'applications, y compris les tests paramétriques, l'identification de l'appareil, la programmation de la carte et les tests d'actifs. Ces tests sont rendus possibles par l'utilisation de technologies à haut débit numérique I/O (DIO) ou de processeurs vectoriels numériques (DVP), ces derniers pouvant être testés au niveau des canaux à des vitesses allant jusqu'à 4 GHz. Le modèle offre une gamme d'options de puissance et de température pour s'adapter aux processus semi-conducteurs traditionnels et avancés. Les algorithmes de contrôle de puissance tels que VCLK, IDDQ et VDDQ ou LDO sont également pris en charge pour assurer la précision et améliorer la probabilité de fonctionnement de l'appareil. En plus des capacités de test et de programmation automatisés (ATP), l'équipement MicroFlex TERADYNE dispose également d'une série robuste d'outils de test en circuit (TIC) pour fournir des tests non destructifs des IC et des cartes de circuit. Ces outils comprennent FeedFlex, une technologie intégrée de micro-interruption qui empêche les dommages permanents aux appareils pendant l'exécution des tests, DFX (Design for testability), et FPGAdb (flash programming and debugging) outils pour le prototypage rapide. Grâce à son architecture robuste, flexible et intégrée, MicroFlex Final Test System offre une solution idéale pour toute exigence de test, permettant une couverture de test accrue, une réduction du délai de commercialisation et une amélioration de la qualité des produits.