Occasion TERADYNE Z 1800 Series #12715 à vendre en France

Le TERADYNE Z 1800 Series est un dernier équipement d'essai conçu pour les environnements de production de haut volume d'aujourd'hui. Il permet une exécution de test efficace, un délai de commercialisation rapide et un débit élevé en combinant des algorithmes de test sophistiqués avec une architecture configurable par le client. L'architecture du système comprend une combinaison de composants matériels et logiciels modulaires et reconfigurables pour l'intégration d'applications personnalisées. Le Z 1800 est basé sur un ordinateur hôte embarqué qui facilite l'exécution et le contrôle de tous les composants matériels et logiciels de l'unité. Ce matériel comprend la carte Master Test Control (MTC), les modules d'interface de test (TIM) et les baies d'expansion. La carte Master Test Control (MTC) est la machine de commande principale de l'outil. Il contient un FPGA ou un CPLD pour le contrôle des actifs, un MCU pour le timing et la synchronisation, RAM et ROM pour le stockage de données de modèle, et un connecteur de port série hôte. Les modules d'interface d'essai (TIM) sont les principaux éléments d'interface d'essai de l'équipement, fournissant puissance et contrôle aux modules d'essai externes. Les baies d'expansion permettent d'ajouter des cartes d'expansion spécifiées par le client (3.3V, 5V et 12V) pour tester des appareils à haute puissance ou à grande vitesse. Le composant logiciel du système Z 1800 comprend des logiciels de station de test (TSS) et des logiciels d'éditeur de test (TES). Test Station Software (TSS) fournit les fonctions de programmation et de configuration pour l'ensemble de l'unité. Il permet au client de définir des modèles de test personnalisés, de les charger dans l'appareil et d'accéder aux paramètres de test globaux. Test Editor Software (TES) fournit un environnement GUI pour la programmation, l'édition et le débogage des modèles de test. En outre, le TES dispose également d'une large bibliothèque de fonctions de test et de compatibilité des dispositifs externes. La machine Z 1800 peut être utilisée pour tester une variété de circuits intégrés semi-conducteurs (IC), tels que des dispositifs logiques, des mémoires, des réseaux de portes programmables sur le terrain (FPGA), des circuits intégrés spécifiques à des applications (ASIC) et des processeurs de signaux numériques (DSP). L'outil prend également en charge une variété de plates-formes de test, exécutant simultanément des tests sur elles en mode parallèle à grande vitesse. En outre, l'actif est capable d'effectuer une gamme complète de tests, y compris l'analyse des limites, la programmation in-model (ISP), les tests in-circuit (ICT), les tests fonctionnels (FCT) et les tests de vérification de conception (DVT). L'équipement est conçu pour la flexibilité et la facilité d'utilisation, avec une interface utilisateur simple et intuitive qui permet de faciliter l'exécution et la gestion des tests. Le système Z 1800 prend également en charge plusieurs protocoles de communication, dont SBus, Ethernet, USB et RS-232. Dans l'ensemble, la série Z 1800 est une solution idéale pour les environnements de production à haut volume d'aujourd'hui, offrant un moyen efficace et fiable de répondre aux exigences de test rapidement, économiquement et avec précision.