Occasion YOKOGAWA AL 6050S #105372 à vendre en France
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ID: 105372
Test systems
Maximum operating frequency: 100MHz / 200MHz (DDR)
Maximum number of parallel DUTs: 512DUTs/system
Device to be measured: DDR-SDRAM, SSRAM, SRAM, PSRAM, FLASH
T data memory (TDM): 64KW x 36bit
Cooling Unit: Up Flow
Algorithmic pattern generator:
Operating frequency : 100MHz
Control memory : 1KW
X-address : 18 bits
Y-address : 18 bits
Data : 36 bits
Address scrambling : Available (256KW x 18bit x 2)
Data scrambling : Available (1KW x 36bit)
Timing generator:
Rate setting range : 10ns to 10ms
Resolution : 19.53125ps
Edge : per PIN
Setting range : 0ns to 1ms and
0ns to RATE_4-10ns
Resolution : 9.765625ps
Strobe : per PIN
Setting range : 0ns to 1ms and
0ns to RATE_4-10ns
Resolution : 9.765625ps
Split level (on the fly): 16 sets
Overall timing accuracy : Normal pin ±400ps
Common pin ±500ps
DRV skew : Normal pin ±200ps
Common pin ±300ps
CMP skew : ±200ps
DC level pin card:
Total number of pins/STATION :320
NLEVEL power supply : _2V to +6V
HLEVEL power supply : 0 V to +15 V
DC measurement unit:
(64) units / station
Voltage range : _8V to +16V
Resolution : 1.25mV
Current range : ±0.1A
Resolution : 0.25nA to 25uA
Device power supply unit: 256 units/STATION
Common power supply unit: 1ch/STATION
Fail memory:
Max. 144Gbit + 36Gbit /50MHz
Maximum bit width : 36 bits
Redundancy unit:
Redundancy CPU : Power PC440GX, 667Mhz
Main memory :256Mbyte
Shared memory : 256*4 Mbytes
Data log memory:
64 words
128 words (DDR mode)
Calibration:
Timing : AUTO
DC level : AUTO
CPU and peripherals:
TMP Processor (*1)
Blade 150 manufactured by Sun microsystems
19"" display
Local memory : 256MB
PCI-VME Local bus adapter
650MHz Ultra spark Iii (512KB Cache)
512MB Memory
80GB HDD
1.44MB 3.5" FDD.
YOKOGAWA AL 6050S est un équipement de test final numérique et économique spécialement conçu pour la fabrication de circuits imprimés. C'est un système multicanal très précis qui peut être utilisé pour tester des circuits numériques, analogiques et mixtes. AL 6050S possède plusieurs caractéristiques uniques qui le distinguent des autres systèmes d'essai. Il comprend 8 canaux numériques actifs et peut être configuré avec jusqu'à 2 modules d'entrée/sortie numériques haute tension en option. L'unité offre également jusqu'à 8 comparateurs numériques, un moniteur de signal et peut générer diverses tensions d'alimentation et signaux de conduite. Il offre également une source de signal, un moniteur de puissance et une unité d'accès à la mémoire. YOKOGAWA AL 6050S dispose d'une interface opérateur avancée représentée par un écran LCD couleur standard de 7 pouces avec commandes tactiles. La machine est conçue pour un contrôle et une précision maximum avec une interface graphique conviviale. Cela facilite la configuration des tests, la configuration des modèles de test et l'analyse des résultats. AL 6050S utilise divers équipements pour effectuer efficacement et avec précision les tests finaux sur les cartes de circuits imprimés. Sa conception comprend une connexion directe à un PC, permettant aux ingénieurs de tester et de vérifier rapidement et efficacement les conceptions de circuits imprimés. Il dispose d'une source d'impulsions et d'un générateur d'impulsions à haut débit intégrés, qui fournissent des performances rapides et fiables. YOKOGAWA AL 6050S dispose également d'un outil d'auto-étalonnage avancé et d'un outil intégré de contrôle de la température qui garantit des résultats précis en tout temps. Le modèle d'auto-étalonnage a été conçu pour fournir un fonctionnement à faible bruit et des valeurs de stabilité élevées, permettant des essais plus précis même sous des températures extrêmes. AL 6050S est un équipement d'essai puissant et efficace qui fournit à l'équipe d'assurance de la qualité des résultats fiables et précis. Ce système peut détecter des défauts subtils dans des conceptions complexes et peut être utilisé pour des tests fonctionnels et paramétriques. C'est une solution idéale pour les petites et moyennes lignes de production, offrant un haut niveau de précision, de rentabilité et de vitesse.
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