Occasion ADVANTEST M 6300 #9200142 à vendre en France

ADVANTEST M 6300
Fabricant
ADVANTEST
Modèle
M 6300
ID: 9200142
Style Vintage: 2006
Handlers DIAG Temperature range: 125°C to -30°C C-Tray kit: Tester System program: 2.02 Sequence program: 2.02 Temperature control program: 2.07 2006 vintage.
Le gestionnaire de composants de la Mission 6300 est un gestionnaire de composants hautement performant, programmable et automatisé conçu pour tester des semi-conducteurs discrets. Ce gestionnaire flexible et fiable est idéal pour tester en grand volume des dispositifs de mémoire, des dispositifs logiques, des capteurs d'image et d'autres composants miniatures. Le dresseur d'ADVANTEST M6300 a une base mobile, aérée pour le transport facile et offre la dernière technologie dans la technologie de paquet compacte évaluant (CPT). Il est capable de traiter simultanément jusqu'à 96 UUT, avec des débits allant jusqu'à 160 UPH. Il est capable de tester une large gamme de températures et offre de multiples options pour la programmation des itinéraires. Pour des essais précis et précis des composants, le M 6300 dispose de capacités de mouvement auto-contrôlées et d'une technologie de détection de couple avancée garantissant que les composants sont manipulés délicatement et en toute sécurité. Le gestionnaire est équipé de systèmes de vision à grande vitesse, de caméras d'inspection et d'algorithmes puissants d'analyse d'images. Il permet également la reconnaissance automatique de plusieurs paquets tels que SO, TSOP, LQFP, TSOP et FBGA. M6300 handler offre également un contrôle avancé des processus lors de tests de composants sensibles tels que les MEMS, les capteurs d'image et les réseaux de microphones. La surveillance et le suivi en temps réel des paramètres du processus tels que la température, la pression et le courant pendant l'exécution des essais élimine la nécessité de systèmes de mesure de précision distincts. Le manipulateur est équipé d'une variété de fixations pour les tests de composants spécialisés et est capable de jusqu'à 30 événements de pick-and-place dans le même cycle d'essai. Le gestionnaire du système de gestion de la mémoire M 6300 est également capable de diverses méthodes de test, y compris le test de chute, les tests d'entrée/sortie, ainsi que le test des propriétés électriques. Il est compatible avec la plupart des solutions de test de pointe, ce qui en fait un choix idéal pour les installations de production et les laboratoires de recherche. Le gestionnaire est conçu pour réduire les erreurs d'intervention humaine et de collecte de données et est conforme aux normes de l'industrie IEC et Semiconductor pour assurer l'exactitude.
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