Occasion KLA / TENCOR 300DFF1P #9256650 à vendre en France

KLA/TENCOR 300DFF1P est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour fournir une précision et une assurance qualité inégalées pour l'industrie des semi-conducteurs. Le système utilise des technologies telles que l'inspection optique automatisée 3D (AOI) pour détecter et mesurer les défauts des surfaces des plaquettes avec une très grande précision. Il intègre également des processus de correction des défauts des plaquettes, y compris la lithographie laser, la gravure par ions réactifs profonds (DRIE) et le polissage chimique et mécanique (CMP) pour remédier efficacement à toutes les imperfections constatées. KLA 300 DFF1P profite d'une plate-forme d'imagerie haute vitesse qui peut produire des images de plaquettes avec une résolution allant jusqu'à 0,14 microns. Les capacités numériques de haute puissance de traitement du signal et de calibration du signal augmentent considérablement la sensibilité et la dynamique de l'unité, lui permettant de détecter de très petits défauts et de mesurer leurs dimensions. De plus, les capacités de métrologie de la machine sont encore améliorées par un processus d'inspection en ligne en temps réel des défauts qui balaye chaque secteur et isole les irrégularités de surface telles que les structures manquantes ou déplacées, les ponts de ligne ou la contamination des particules. TENCOR 300 DFF 1 P fournit également aux utilisateurs des capacités de gestion de données flexibles, leur permettant de stocker et d'accéder à distance à leurs données et résultats de test. L'outil comprend des options intégrées de rapport et de documentation qui permettent de générer facilement des rapports de wafer et de créer des enregistrements détaillés de tout résultat d'essai. L'interface utilisateur de l'actif offre aux utilisateurs une structure de navigation très intuitive et un accès facile à toutes les fonctionnalités et fonctions, minimisant les temps d'arrêt et améliorant la productivité. Au total, 300 DFF1P est un modèle d'essai et de métrologie de plaquettes incroyablement polyvalent et puissant. Ses capacités exceptionnelles d'imagerie, de métrologie et de gestion des données en font un choix idéal pour toute installation de fabrication de semi-conducteurs recherchant des performances fiables et précises. Avec ses fonctionnalités avancées et ses interfaces faciles à utiliser, le KLA 300 DFF 1 P est conçu pour garantir la qualité du produit, réduire les coûts et optimiser l'efficacité.