Occasion KLA / TENCOR SP1 300DFF1P #9250789 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1 300DFF1P est un gestionnaire de métrologie automatisé optimisé pour l'inspection au niveau des plaquettes et les mesures de la qualité de surface, permettant la mesure et l'analyse d'un large éventail de surfaces et de types de défauts. Le dresseur offre l'exactitude améliorée, repeatability et le débit grâce à son équipement de multifonction de DFF1 innovateur. Doté d'une cellule de mesure de la planéité du champ de lumière intégrée, ce système assure des mesures répétables, instantanées et en un seul point des variations de surface à longue portée typiques de nombreuses plaquettes IC. Le gestionnaire KLA SP1 300DFF1P est capable de fonctionner avec la plupart des dimensions des plaquettes et des exigences de mesure de la planéité, et est bien adapté aux procédés modernes de ligne semi-conductrice. Le gestionnaire offre un positionnement précis et répétable pour chaque tâche de métrologie, avec un champ de mesure petit et précis pour l'analyse des données en temps réel. L'unité est conçue avec des capacités de vision avancées basées sur ordinateur qui permettent des inspections visuelles sans contact de haute qualité, ainsi que jusqu'à 30 x d'accélération des processus d'analyse de surface et de détection des défauts. De plus, le contrôleur a intégré des algorithmes pour permettre une meilleure analyse des données, des recherches rapides sur les plaquettes et la possibilité de retracer des images individuelles. Le gestionnaire TENCOR SP1 300DFF1P est capable d'accueillir un large éventail de paquets d'échantillons et d'IC. Le gestionnaire peut prendre en charge divers types d'échantillons d'essai, notamment des plaquettes, des panneaux plats, des dispositifs PROM, des BPC et d'autres échantillons couramment utilisés en métrologie. Pour assurer la précision et la précision, le 300DFF1P comprend un nomogramme non linéaire de 72 points très précis qui peut être adapté à une gamme de différents types et processus IC. En outre, KLA a intégré plusieurs fonctionnalités avancées dans leur gestionnaire SP1 300DFF1P pour améliorer les performances globales. Il s'agit notamment d'une bibliothèque avancée de détection des défauts, de capacités de caractérisation automatisées grâce à l'analyse des particules et au micro-contournage, d'un support de coussin d'air et d'une machine automatisée de calcul de la planéité des plaquettes. En outre, le 300DFF1P intègre une puissante série de détections et de logiciels, permettant une caractérisation et une analyse supplémentaires de la tomographie par cohérence optique (PTOM) et des caractéristiques de surface basées sur l'image. KLA/TENCOR SP1 300DFF1P handler est un outil de métrologie efficace et hautement reproductible spécialement conçu pour mesurer la qualité de surface d'une grande variété de matériaux et de composants. En outre, ses fonctionnalités et capacités avancées non seulement augmentent la productivité, mais permettent aussi un traitement rapide et précis des données. L'atout est une solution idéale pour ceux qui recherchent une précision et une fiabilité accrues dans leurs processus semi-conducteurs.