Occasion TESEC 3270-IH #293771738 à vendre en France

Fabricant
TESEC
Modèle
3270-IH
ID: 293771738
Map handler MLP 3x3.
TESEC 3270-IH est un manipulateur automatisé sophistiqué et avancé conçu pour les essais et la manipulation à haut volume des dispositifs semi-conducteurs. Ce gestionnaire est spécialement conçu pour répondre aux exigences exigeantes des essais de circuits intégrés (IC) dans les installations de fabrication et les laboratoires d'essai. 3270-IH offre une solution complète pour la manipulation d'un large éventail de dispositifs semi-conducteurs, y compris divers types d'emballages, tailles et technologies. TESEC 3270-IH dispose d'une conception mécanique robuste associée à des capacités d'automatisation avancées pour maximiser le débit, l'efficacité et la fiabilité dans les environnements d'essai des semi-conducteurs. Équipé d'une robotique de pointe et de mécanismes de manutention de précision, ce manipulateur peut transporter et positionner efficacement des dispositifs semi-conducteurs pour des tests avec une précision et une répétabilité maximales. L'un des points forts de 3270-IH est sa polyvalence, qui lui permet de prendre en charge plusieurs applications de test et types d'appareils. Qu'il s'agisse de paquets traditionnels au plomb, tels que les paquets plats quad (QFP) et les paquets de petits contours (SOP), ou de technologies avancées de paquets comme les réseaux à billes (BGA) et les paquets à puce (CSP), ce gestionnaire est équipé pour les manipuler facilement. TESEC 3270-IH est conçu pour une intégration transparente avec les systèmes de test à semi-conducteur, permettant une communication et une synchronisation efficaces entre le gestionnaire et l'équipement de test. Cette intégration est cruciale pour optimiser le débit de test, réduire le temps de configuration et améliorer la productivité globale des tests. En termes de performances, 3270-IH est conçu pour des opérations de test à grande vitesse, capable de manipuler un grand nombre de dispositifs dans un court laps de temps. Ses capacités de manipulation et de positionnement de précision assurent un contact précis entre les sondes d'essai et les broches du dispositif, minimisant le risque de fausses lectures ou de défaillances d'essai. Le système de contrôle logiciel sophistiqué du gestionnaire permet la cartographie précise des appareils, l'alignement et le séquençage des flux de test, améliorant la précision et la répétabilité des tests. De plus, TESEC 3270-IH intègre des technologies de détection avancées pour surveiller la position et l'état de l'appareil pendant la manipulation, permettant la détection et la prévention des erreurs en temps réel. Les dispositifs de sécurité jouent également un rôle essentiel dans la conception des 3270-IH, avec des mécanismes intégrés pour assurer la protection des opérateurs et prévenir les dommages aux dispositifs semi-conducteurs. La conception de l'enceinte et les systèmes d'interception du gestionnaire aident à maintenir un environnement d'essai contrôlé, protégeant à la fois l'équipement et le personnel des dangers potentiels. Globalement, TESEC 3270-IH se distingue comme une solution fiable et efficace pour les applications de test de semi-conducteurs à haut volume, offrant des performances inégalées, la polyvalence, et des capacités d'automatisation. Sa construction robuste, ses technologies de manutention avancées, son intégration homogène aux systèmes d'essai et son importance pour la sécurité en font un atout précieux pour les fabricants de semi-conducteurs et les installations d'essai qui cherchent à améliorer leurs opérations d'essai.
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