Occasion FEI DualBeam 620 #293795397 à vendre en France

L'équipement de fraisage ionique FEI-Beam 620 est un équipement sophistiqué conçu pour l'imagerie haute résolution et les capacités analytiques dans le domaine de la fabrication de semi-conducteurs, de la science des matériaux et de la microélectronique. Il combine les fonctionnalités d'un microscope électronique à balayage (SEM) et d'un système de faisceau d'ions focalisé (FIB) pour fournir une résolution d'imagerie exceptionnelle et des capacités d'enlèvement de matériaux de précision. Au cœur de l'unité du Faisceau d'Or 620 se trouve une source d'électrons haute performance d'émission de champ qui génère un faisceau d'électrons focalisés pour l'imagerie et l'analyse de la surface de l'échantillon. Ce faisceau d'électrons offre des capacités d'imagerie à haute résolution permettant aux chercheurs de visualiser et d'analyser la microstructure des matériaux à l'échelle nanométrique. La machine dispose également d'un outil de détection haute sensibilité qui peut capturer des images avec une clarté et un contraste exceptionnels, permettant une caractérisation détaillée des propriétés du matériau. En plus des capacités SEM, l'actif FEI DualBeam 620 est équipé avec le rayon d'ion concentré d'une haute énergie qui peut être précisément ordonné d'enlever la matière de la surface de promotion à un processus connu comme le broiement d'ion. Le faisceau d'ions est typiquement composé d'ions gallium, qui peuvent être finement focalisés pour éliminer le matériau avec une précision nanométrique. Cette capacité d'enlever sélectivement des matériaux d'un échantillon permet aux chercheurs de préparer des échantillons pour l'analyse, d'effectuer une imagerie transversale et de fabriquer des nanostructures avec une grande précision. Un des traits clés de modèle DualBeam 620 est ses capacités d'automation robustes, qui carènent le flux de production et permettent la préparation de promotion efficace et l'analyse. L'équipement est équipé d'un logiciel de pointe qui permet aux utilisateurs de définir des modèles de fraisage complexes, d'automatiser la navigation des échantillons et d'optimiser les paramètres d'imagerie et de fraisage pour une efficacité maximale. Cette fonctionnalité d'automatisation accélère le temps de traitement de l'échantillon et améliore la productivité globale du système. L'unité de FEI DualBeam 620 présente aussi une gamme de capacités analytiques avancées qui améliorent son utilité pour un large éventail d'applications. La machine est équipée de détecteurs de spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) qui peuvent analyser la composition élémentaire de l'échantillon avec une sensibilité et une résolution spatiale élevées. Cela permet aux chercheurs d'effectuer une cartographie élémentaire, d'identifier les phases chimiques et de caractériser les matériaux au niveau atomique. En outre, l'outil DualBeam 620 est compatible avec une variété de détenteurs de promotion et d'accessoires, en permettant aux utilisateurs d'analyser des échantillons de différentes grandeurs, formes et compositions. L'actif peut accueillir des échantillons conducteurs et non conducteurs, et offre une gamme d'options pour la manipulation, le revêtement et la préparation des échantillons. Cette polyvalence rend le modèle bien adapté à un large éventail d'applications de recherche en science des matériaux, nanotechnologie et fabrication de semi-conducteurs. Dans le résumé, FEI DualBeam 620 est un état de l'équipement de broiement d'ion d'art qui offre des capacités d'enlèvement reflétantes, analytiques et matérielles avancées de la recherche et du développement dans les divers domaines. Sa combinaison de fonctionnalités SEM et FIB, de fonctionnalités d'automatisation et d'outils analytiques en font un outil puissant pour caractériser les matériaux, fabriquer des nanostructures et mener des recherches avancées dans les industries des nanosciences et des semi-conducteurs.