Occasion FEI DualBeam 820 #293821751 à vendre en France

L'équipement de fraisage ionique FEI-Beam 820 est un équipement de pointe qui offre des capacités avancées pour le traitement précis des échantillons dans une variété d'applications. Cet instrument de pointe intègre une colonne de faisceau ionique focalisé (FIB) avec une colonne de microscope électronique à balayage (SEM), permettant une imagerie haute résolution et une élimination précise du matériau à l'échelle d'un nanomètre. DualBeam 820 est conçu pour fournir aux chercheurs, les ingénieurs et les scientifiques avec un outil flexible pour un large éventail de tâches, en incluant la modification d'appareil de semi-conducteur, l'analyse d'échec, le prototypage et la recherche de science de matériel. Au cœur du système FEI, le faisceau 820 est sa colonne FIB, qui génère un faisceau focalisé d'ions de haute énergie, typiquement des ions gallium, pour les tâches de fraisage, de dépôt et d'imagerie. La colonne FIB peut atteindre une extrême précision dans l'enlèvement des matériaux, ce qui la rend idéale pour la coupe, le forage et la sculpture d'échantillons avec une résolution sous-micron. Cette fonctionnalité permet aux utilisateurs d'enlever sélectivement des matériaux de régions spécifiques d'un échantillon avec précision, permettant une analyse détaillée et la modification de structures complexes. La colonne SEM complète la colonne FIB, qui offre des capacités d'imagerie haute résolution pour visualiser les surfaces et les structures des échantillons. La colonne SEM utilise des électrons pour générer des images détaillées de l'échantillon, offrant des aperçus sur sa topographie, sa composition et sa structure. En combinant le MENSONGE et la fonctionnalité SEM, DualBeam 820 permet aux utilisateurs de jouer dans - situ le reflétant et le traitement, le fait de tenir compte la surveillance en temps réel et le contrôle du broiement et du fait de refléter des processus. Une des forces clés d'unité FEI DualBeam 820 est son adaptabilité et flexibilité dans la manipulation de promotion. L'instrument est équipé d'une machine à étages sophistiquée qui permet une manipulation et un positionnement précis des échantillons lors des tâches de fraisage et d'imagerie. Cette caractéristique est essentielle pour effectuer des opérations complexes telles que le découpage transversal, le fraisage spécifique au site et la reconstruction 3D de structures d'échantillons. Supplémentairement, DualBeam 820 soutient un large éventail de grandeurs de promotion et de types, en le rendant convenable pour une gamme diverse de recherche et d'applications industrielles. Les capacités de broiement d'ion d'outil FEI DualBeam 820 le rendent particulièrement bien convenable pour l'analyse d'échec et de modification d'appareil de semi-conducteur. La haute précision et le contrôle offerts par la colonne FIB permettent aux utilisateurs d'éliminer sélectivement le matériau des circuits intégrés, transistors et autres dispositifs semi-conducteurs pour la localisation et l'analyse des défauts. De plus, l'actif peut être utilisé pour l'édition de circuits, le prototypage et l'ingénierie inverse dans l'industrie des semi-conducteurs. Dans le domaine de la science des matériaux, le modèle Faisceau 820 est inestimable pour étudier les microstructures, les interfaces et les défauts dans un large éventail de matériaux. Les chercheurs peuvent utiliser l'équipement pour préparer des sections d'échantillons en microscopie électronique à transmission (TEM), révéler les limites des grains et les distributions de phases, et étudier les effets des conditions de traitement sur les propriétés des matériaux. La capacité de précisément contrôler le processus de broiement et le combiner avec les capacités reflétantes à haute résolution rend FEI DualBeam 820 un outil essentiel pour la recherche de matériel avancée et le développement. En conclusion, le système de fraisage ionique à 820 faisceaux représente un instrument de pointe pour le traitement et l'imagerie des matériaux de précision à l'échelle nanométrique. Avec ses fonctionnalités FIB et SEM de pointe, ses capacités de manipulation d'échantillons polyvalentes et son large éventail d'applications, FEI-Beam 820 est un outil puissant pour les chercheurs et les ingénieurs qui cherchent à repousser les limites de la nanotechnologie, de la technologie des semi-conducteurs et de la science des matériaux. Ses capacités avancées et sa précision inégalée en font un atout précieux pour une gamme diversifiée d'industries et de domaines de recherche.