Occasion FEI DualBeam 820 #9215632 à vendre en France

Fabricant
FEI
Modèle
DualBeam 820
ID: 9215632
Focused Ion Beam (FIB) system FEG Source electron column Pre-lens ion column Stage and loadlock, 8" (2) Gas injectors PC.
FEI DUALBEAM 820 est un équipement de broiement d'ion avancé conçu à la préparation de haute performance de surfaces matérielles. Le système est capable d'effectuer un broyage ionique précis d'une large gamme de surfaces de matériaux, y compris des surfaces fragiles et difficiles à usiner telles que la céramique, les alliages métalliques et le verre. Le faisceau 820 utilise l'imagerie Ga et le dépôt de faisceau d'ions gallium à large plage pour obtenir des caractéristiques de broyage qui sont à l'échelle des nanomètres. Cela permet une ablation étroite et précise lors du traitement de surfaces délicates. Cette unité utilise un support de substrat fixe pour assurer une manipulation fiable des surfaces de matériaux lors du fraisage. Le support est capable de tourner pour faciliter la navigation du faisceau d'ions et les étapes d'articulation pour assurer un fonctionnement précis. Cette conception avancée garantit des résultats de fraisage de haute précision même lors de la manipulation d'échantillons délicats. La machine est également enfermée dans une chambre à vide pour minimiser les effets de l'expansion des débris et de la contamination de l'environnement pendant le fonctionnement. Le faisceau FEI 820 est l'un des rares systèmes avancés de fraisage ionique qui peuvent être utilisés pour les opérations de fraisage planaire et profilé. Pour le fraisage planaire, un étage motorisé 3 axes précis permet une ablation uniforme et un réglage précis de la vitesse. La capacité de fraisage profilé permet un contrôle contrôlé du faisceau d'ions pour former des caractéristiques et des profondeurs complexes. De plus, un outil de déviation indépendant est disponible pour répondre à différents types de besoins de fraisage. Le faisceau 820 dispose de deux sources de faisceau d'ions fonctionnant indépendamment pour l'imagerie Ga et le dépôt de faisceau d'ions gallium à large plage. Cela permet un contrôle et une optimisation précis pour différentes opérations de fraisage. L'outil d'imagerie Ga est capable de capturer la topographie de surfaces et de caractéristiques délicates pour détecter tout dommage ou contamination. Le faisceau d'ions gallium permet un processus d'ablation de haute précision pour créer des caractéristiques complexes sur la surface du matériau. Le faisceau FEI 820 peut être utilisé avec de nombreux matériaux différents, y compris les métaux, le verre, la céramique et les composites. Il fournit également une gamme complète de contrôles et de fonctions de surveillance des processus de fraisage pour la validation et la surveillance des processus. En outre, la suite logicielle avancée de FEI permet de surveiller facilement l'activité de fraisage pour une expérience de fraisage plus personnalisée. En général, DualBeam 820 est un modèle de broiement d'ion avancé conçu au broiement exact de surfaces matérielles. L'équipement est enfermé dans une chambre à vide et comprend un support de support de papeterie, un étage 3 axes précis, un système de déviation de faisceau avec poutres actionnées de manière indépendante, et une suite logicielle complète pour le fraisage et la surveillance complète. L'unité est efficace pour créer des caractéristiques complexes avec une grande précision et une grande vitesse.
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