Occasion FEI DualBeam 835 #293594852 à vendre en France

FEI DualBeam 835
Fabricant
FEI
Modèle
DualBeam 835
ID: 293594852
Scanning Electron Microscope (SEM) SFEG Electron column Magnum ion column CDEM Detector TLD Detector ETD Detector Platinum GIS Carbon GIS Chiller Oil free turbo pumps Pre-vacuum pump.
L'équipement de fraisage ionique de pointe FEI-Beam 835 offre une gamme unique de capacités pour l'analyse de surface à l'échelle nanométrique. Cet instrument polyvalent intègre un système FIB (faisceau ionique focalisé) et une colonne SEM (microscope électronique à balayage), permettant une modification de surface de précision, une imagerie haute résolution et une analyse élémentaire détaillée. La composante FIB du Faisceau d'électrons 835 est capable de gravure par pulvérisation, de dépôt et de lithographie par faisceau d'électrons. Ces capacités permettent aux opérateurs de broyer et de façonner des matériaux avec une précision nanométrique, tout en fournissant un aperçu des propriétés des matériaux et des microstructures à l'échelle nanométrique. Le composant SEM intégré permet aux opérateurs d'obtenir des images de surfaces fraisées avec une résolution latérale allant jusqu'à 5 nm et d'effectuer des caractérisations supplémentaires telles que des mesures chimiques et électriques. Le faisceau 835 de FEI comprend une chambre haute tension avec une pression de 10-6 Torr, un alignement laser visible pour un positionnement précis de l'échantillon et une unité d'injection de gaz à double action pour un contrôle précis du gaz. Sa machine de contrôle de source avancée permet un réglage précis de l'énergie du faisceau ainsi que le diamètre du faisceau d'ions et le réglage du courant. Ces fonctionnalités, associées à son logiciel robuste, offrent aux utilisateurs un contrôle détaillé et une flexibilité pour une large gamme d'applications de fraisage ionique. DualBeam 835 est un choix idéal pour les chercheurs, les fabricants et les ingénieurs qui exigent des capacités de broiement d'ion avancées et une caractérisation exposée en détail de matériel à la nanoéchelle. Avec des composants FIB et SEM intégrés, cet instrument est en mesure de fournir aux utilisateurs des résultats fiables et reproductibles avec un minimum de temps et d'effort.
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