Occasion FEI DualBeam 835 #293606223 à vendre en France
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ID: 293606223
Scanning Electron Microscope (SEM)
Peripherals / Accessories:
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CPU
Keyboard
Mouse.
L'équipement de fraisage ionique FEI-Beam 835 est conçu pour une large gamme d'applications de caractérisation des matériaux et de nanofabrication. Le système combine des technologies de microscopie électronique à balayage (SEM) et de faisceau d'ions focalisés (FIB), permettant une imagerie précise et la nanofabrication. L'unité est équipée d'un canon à émission de champ FEI Schottky haute résolution. Le canon promet des performances optimales avec une imagerie haute résolution et une taille de tache faible. Un détecteur de rétrodiffusion basse énergie est également inclus pour l'imagerie de contraste de phase. Pour la nanofabrication, le faisceau 835 est équipé d'une machine FIB (gallium Focused Ion Beam). L'outil est conçu pour permettre un broyage précis et précis des matériaux afin d'observer les caractéristiques nano-échelle et d'étendre les capacités de caractérisation des matériaux. L'actif est compatible avec une variété d'espèces d'ions, permettant à l'utilisateur de sélectionner le type de faisceau correct en fonction du matériau et de l'application. Le courant du faisceau est réglable de 10 pA à 300 nA. Le faisceau FEI 835 offre une manipulation avancée des échantillons, y compris des étages à vide élevé, deux étages d'échantillons à 2 axes et deux cavités pouvant accueillir jusqu'à deux échantillons, maximisant le débit des échantillons et réduisant le temps de mise en place. Le temps d'échange pour SEM et FIB, ainsi que le temps de changement d'échantillon peuvent être minimisés par la capacité d'échange automatique des cavités. Le modèle dispose d'un logiciel puissant pour la collaboration, l'analyse et la caractérisation. Le logiciel convivial offre une interface graphique intuitive et des flux de travail automatisés pour améliorer l'efficacité et la reproductibilité. Le logiciel FEI Helios Synthesis™ permet aux utilisateurs d'effectuer des fraisages automatisés et d'extraire des données du canal FIB. Le logiciel comprend également un module Nanoscopy pour obtenir des images 3D précises de structures nanométriques. Le faisceau 835 optimise l'imagerie et la nanofabrication, ce qui en fait un outil idéal pour diverses applications de caractérisation des matériaux et de nanofabrication. La combinaison des technologies SEM et FIB, la manipulation précise des échantillons, la compatibilité avec une variété d'ions, les logiciels avancés, et la haute performance du canon d'émission de champ Schottky font de l'équipement un outil inestimable pour la recherche scientifique et l'expérimentation.
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