Occasion FEI DualBeam 835 #9285511 à vendre en France

L'équipement de fraisage ionique FEI-Beam 835 est conçu pour fournir une solution d'imagerie haute résolution pour la recherche sur les matériaux nanométriques. Ce système d'imagerie à double faisceau combine un faisceau ionique focalisé et un microscope électronique à balayage pour fournir des capacités de résolution de sous nanomètre. Il est idéal pour un large éventail d'applications, telles que l'imagerie de surface à résolution atomique 3D, l'imagerie de surface 3D, la cartographie de la tension de surface, l'analyse élémentaire quantitative, le profilage de profondeur de pulvérisation ionique, l'analyse de structure cristalline et la microscopie électronique de transmission. Le faisceau 835 comprend une colonne d'ions et un microscope électronique à balayage (SEM ou EDX). La colonne d'ions est composée d'une source d'ions, d'une optique de faisceau et d'éléments de focalisation. Une technique de double faisceau est utilisée, combinant à la fois l'extraction d'ions de haute énergie et l'activation de faisceau d'électrons de basse énergie pour traiter efficacement des structures complexes. L'éjection de matériaux à haute énergie facilite des structures massives bien définies, fournissant une topographie de surface 3D précise et une imagerie haute résolution à l'échelle atomique. La partie SEM de la machine permet l'analyse des matériaux in situ. L'interaction entre le faisceau d'électrons et un objet testé produira des électrons secondaires qui permettront d'avoir un aperçu des matériaux étudiés. Ces électrons sont détectés par l'outil et analysés par détection électronique secondaire. L'actif FEI-Beam 835 annote également et améliore le processus d'image par rapport au modèle précédent, FEI 831. Le modèle améliore considérablement le champ de vision de la basse résolution au sous-nanomètre. Son approche à double faisceau offre également un meilleur contraste et une meilleure clarté d'image sur la structure la plus complexe. Cet équipement d'imagerie est chargé de diverses fonctionnalités telles que l'outil de réglage de profil à double faisceau qui augmente la précision et la résolution. En outre, DualBeam 835 est contrôlable via une interface d'utilisateur graphique, qui tient compte du contrôle de système plus facile et de l'opération. En général, FEI DualBeam 835 est conçu pour fournir des solutions de reflétant de haute résolution de nanoescalader la recherche de matériel. Cette puissante unité dispose de la technologie à double faisceau, fournissant une expérience d'imagerie supérieure, avec une résolution et un contraste améliorés, ainsi que des capacités d'annotation et de traitement d'image améliorées. Grâce à une interface graphique conviviale, la colonne d'ions et le microscope électronique à balayage peuvent être facilement actionnés et contrôlés.