Occasion FEI DualBeam 865 #9076200 à vendre en France

L'équipement de fraisage ionique FEI-Beam 865 est une technique avancée et très précise utilisée pour préparer et analyser des matériaux à un très haut niveau de résolution. Ce système combine une technologie avancée de fraisage par faisceau ionique focalisé (FIB) avec des capacités d'imagerie au microscope électronique à balayage (SEM). Le faisceau 865 est conçu pour un large éventail d'applications, telles que le dépôt de couches minces, la fabrication de nanostructures et le broyage d'échantillons 3D précis. La technique de fraisage FIB utilisée dans le FEI-Faisceau 865 permet l'élimination et le dépôt de matériaux à l'échelle nanométrique à l'aide d'un flux d'ions de haute énergie. Les ions sont focalisés à travers une unité d'optique électronique stabilisée en mouvement pour fournir une résolution spatiale extrêmement fine. Les ions ont également la capacité de pénétrer les surfaces de matériaux et dans des structures avec des profondeurs extrêmes pour un broyage 3D précis. De plus, le faisceau 865 est capable d'infiltration de carbone et d'imagerie chimique 3D, ce qui permet aux chercheurs de visualiser un échantillon en trois dimensions avec une clarté sans précédent. Les capacités d'imagerie en microscopie électronique à balayage (SEM) de FEI-Beam 865 permettent aux chercheurs de suivre le processus de fraisage en temps réel à un très haut niveau d'amplification. Les caractéristiques nanométriques de la surface de l'échantillon peuvent être détectées et analysées avec des électrons secondaires et rétrodiffusés pour une gamme d'applications. Le faisceau 865 est également équipé d'un transducteur ultrasonore qui génère des vibrations haute fréquence pour faciliter le nettoyage et le débourrage des échantillons. Le design flexible de FEI DualBeam 865 permet le contrôle précis sur le broiement et le fait de refléter le processus. La machine dispose d'un large éventail de porte-échantillons pour accueillir la gamme de matériaux utilisés dans diverses applications de recherche. En outre, l'outil permet le positionnement pratique des accessoires de fraisage comme les microplaquettes et les broyeurs d'extrémité. Le contrôle de haute précision des systèmes FIB et SEM permet aux chercheurs de disposer d'une vision inégalée de la microstructure de leurs échantillons. Les systèmes traditionnels de fraisage ionique de FEI-Beam 865 s'améliorent considérablement, offrant une technique avancée et très précise pour la préparation et l'analyse des échantillons. La combinaison de MENSONGE et de capacités SEM rend DualBeam 865 un outil inestimable pour les chercheurs de matériel. Les capacités de broyage d'échantillons et d'imagerie très précises de l'actif permettent aux chercheurs d'analyser les matériaux à un niveau de détail jusqu'à présent indisponible.